# Blunk electronic

> Engineering-Dienstleister für Elektronikentwicklung und elektronische Testverfahren in Erfurt

## Auf einen Blick

- **Ort:** Erfurt
- **Website:** http://blunk-electronic.de/
- **Mitarbeiter:** 1
- **Verfahren:** Schaltungsentwurf (CAD/CAE/ECAD), Leiterplattendesign / PCB-Design / Hardwareentwicklung, Agile Hardwareentwicklung, Logiksynthese (Verilog, VHDL), EMV (Elektromagnetische Verträglichkeit), Prüfgerechter Entwurf (Design For Test, DFT), Boundary-Scan Test (IEEE1149.x), In-Circuit-Test (ICT), Flying-Probe-Test (FPT), Funktionstest (FT), Reparatur (Elektronikreparatur), Zuverlässigkeitsanalyse, Beratende Ingenieurleistung / Elektronik-Grundlagenberatung, Schaltungsentwurf, Leiterplattendesign / PCB-Design, Hardwareentwicklung, EMV, Materialwirtschaft, Zuverlässigkeit, Design For Test (DFT)
- **Werkstoffe:** Leiterplatte / PCB, CPLD (Xilinx XC9500)
- **Branchen:** Elektronik, Elektronikentwicklung, Elektronikfertigung/Prüfung
- **Profil:** https://amplifa-marketplace.com/anbieter/blunk-electronic

## Über uns

Blunk electronic ist ein Ein-Personen-Engineering-Büro von Dipl. Ing. (FH) Mario Blunk mit Sitz in Erfurt. Das Angebot umfasst Schaltungsentwurf (CAD/CAE/ECAD), Leiterplattendesign und Hardwareentwicklung, agile Hardwareentwicklung sowie Logiksynthese in Verilog und VHDL. Ein weiterer Schwerpunkt liegt auf elektronischen Testverfahren: prüfgerechter Entwurf (Design For Test), Boundary-Scan nach IEEE1149.x, In-Circuit-Test, Flying-Probe-Test, Funktionstest, EMV und Zuverlässigkeitsanalyse. Ergänzend werden Elektronikreparatur, Materialwirtschaft, Schulungen und Vorlesungen angeboten. Eigene Projekte sind das Open-Source-Boundary-Scan-Testsystem M-1 sowie das CAE-System ET. Kunden stammen aus der Elektronikbranche; Sprachen sind Deutsch und Englisch.

## Verfahren & technische Grenzen

- Schaltungsentwurf (CAD/CAE/ECAD)
- Leiterplattendesign / PCB-Design / Hardwareentwicklung
- Agile Hardwareentwicklung
- Logiksynthese (Verilog, VHDL)
- EMV (Elektromagnetische Verträglichkeit)
- Prüfgerechter Entwurf (Design For Test, DFT)
- Boundary-Scan Test (IEEE1149.x)
- In-Circuit-Test (ICT)
- Flying-Probe-Test (FPT)
- Funktionstest (FT)
- Reparatur (Elektronikreparatur)
- Zuverlässigkeitsanalyse
- Beratende Ingenieurleistung / Elektronik-Grundlagenberatung

## Maschinenpark

- 1× Boundary-Scan-Testsystem M-1

## Standorte

- Erfurt – Büro / Engineering-Standort

## Kontakt

- Buchfinkenweg 3
- 99097 Erfurt
- 0176 2904 5855
- info@blunk-electronic.de