# Dr. Eschke Elektronik GmbH

> Entwicklung und Produktion von elektronischen Testsystemen für In-Circuit-, Funktions- und Halbleitertest

## Auf einen Blick

- **Ort:** Berlin
- **Website:** https://dr-eschke.de
- **Gegründet:** 1990
- **Verfahren:** In-Circuit-Test, Funktionstest, Komponententest, Halbleitertest, Boundary Scan Test, AOI-Test, Inline Test, High Speed Mixed Signal-Test (digital bis 6 GS/s, analog bis 5 GS/s), Testsysteme (In-Circuit, Funktionstest, Komponententest, Inline, Halbleitertest, Boundary Scan, AOI), Komplettlösungen Prüftechnik, Support und Service, Reparaturdatenverwaltung/Repair Station, CAD- und Testdaten Import, Testabdeckungsanalyse, Logging und Statistik
- **Werkstoffe:** Flachbaugruppen (PCB), Halbleiter-Bauelemente, In-Circuit-Test, Funktionstest, Halbleiter-/Komponententest, Boundary Scan Test, AOI-Test, High Speed Mixed Signal-Test
- **Zertifikate:** Kundenkunft QMS-Anbindung
- **Branchen:** Elektronikfertigung, Automotive, Eisenbahn-Sicherungstechnik, Halbleiter, Telekommunikation/Übertragungstechnik, Optoelektronik, Telekommunikation/Übertragungstechnik (ATM, STM)
- **Profil:** https://amplifa-marketplace.com/anbieter/dr-eschke-elektronik

## Über uns

Die Dr. Eschke Elektronik GmbH entwickelt und produziert elektronische Testsysteme für die Fertigung, Entwicklung und Service von Elektronikbaugruppen. Das Portfolio umfasst In-Circuit-Tester, Funktionstester, Komponententester, Inline-Tester, Halbleitertester sowie Boundary-Scan- und AOI-Testlösungen; verschiedene Verfahren lassen sich in einem Kompakttester kombinieren. Die frei skalierbare CT3xx-Testerfamilie mit einheitlichem Bussystem, Betriebssoftware CTestAdvisor, CAD- und Testdatenimport, Testabdeckungsanalyse sowie serverbasierter Reparaturdatenverwaltung ermöglicht kundenspezifische Komplettlösungen der Prüftechnik. Mehr als 750 Testsysteme sind international im Einsatz, unter anderem in der Elektronikfertigung, der Automobilindustrie, der Eisenbahn-Sicherungstechnik, der Halbleiter- und Telekommunikationstechnik sowie der Optoelektronik. Das Unternehmen wurde 1990 gegründet und sitzt mit Headquarter in Berlin; eine Zweigstelle für Vertrieb, Support und Service besteht in Waldshut-Tiengen.

## Verfahren & technische Grenzen

- In-Circuit-Test
- Funktionstest
- Komponententest
- Halbleitertest
- Boundary Scan Test
- AOI-Test
- Inline Test
- High Speed Mixed Signal-Test (digital bis 6 GS/s, analog bis 5 GS/s)

## Maschinenpark

- Kombinationstestsystem Dr. Eschke Elektronik CT350 Comet T EH (Paralleltest)
- Kompakt-Tester Dr. Eschke Elektronik CT350 Comet C
- Kombinationstester Dr. Eschke Elektronik CT350 Comet T
- Semiconductor- und Kombinationstester Dr. Eschke Elektronik CT350 Comet R / CT3xx Power Rack
- Semiconductor- und Komponententester Dr. Eschke Elektronik CT350 Comet S
- High-Speed Kombinationstester Dr. Eschke Elektronik CT300 Galaxy / CT300 Meteor / CT300 Satellite
- Board-, Semiconductor- und Final-Tester Dr. Eschke Elektronik CT300 Basic System
- High Speed Kombinationstester Dr. Eschke Elektronik CT250 / CT250M
- Funktionstester Dr. Eschke Elektronik DAT500 (500 MS/s analog, 100 MS/s digital, 1024 Kanäle)
- Chip-Card-Tester Dr. Eschke Elektronik DAT100-CD
- Digital-Analog-Tester Dr. Eschke Elektronik DAT100M (100 MS/s analog, 1024 digitale Kanäle)
- Digital-Analog-Tester Dr. Eschke Elektronik DAT100 (100 MS/s analog, 256 digitale Kanäle)
- Digital-Tester Dr. Eschke Elektronik DT30 (50 MS/s, 88 Kanäle)
- Digital-Tester Dr. Eschke Elektronik DKTS-2 (30 MS/s, 88 Kanäle)
- Repair Station Dr. Eschke Elektronik server-basierte Logging- und Reparaturdatenverwaltung
- Modul: High Speed Digitalmodul Dr. Eschke Elektronik DM1G (16/32 MSteps, bis 1,5 GS/s / 6 GS/s Burst Mode)
- Modul: Messmodul Kapazität/Induktivität Dr. Eschke Elektronik XIMP20
- Modul: Analogmodul Dr. Eschke Elektronik AM30-4B (30 V, 300 mA, 24 Bit)
- Modul: High Speed Color Analyzer Dr. Eschke Elektronik CDM24
- High Voltage Relaismatrix Dr. Eschke Elektronik SC370 (370 Vss)

## Standorte

- Berlin – Headquarter: Entwicklung, Produktion, Vertrieb und Support

## Historie

- 1990: Gründung des Unternehmens; Digital-Tester DKTS-2, Entwicklungen für Fiber Optic TRX und FDDI
- 1993: Digital-Tester DT30
- 1995: Digital-Analog-Tester DAT100, Gigabit-Transceiver
- 1996: Digital-Analog-Tester DAT100M
- 1997: DAT-IrDA, Prüftechniken ATM, STM-1, STM-4
- 1998: Funktionstester DAT500
- 1999: ATM-Tester DAT-ATM
- 2001: CT250/CT250M, Chip-Card-Tester DAT100-CD
- 2003: MDA-Techniken, Test von Automotive-Modulen
- 2004: CT300 Basic System, T-B1 Testsystem für Eisenbahn-Sicherungstechnik
- 2005: CT300 Serie (Galaxy, Meteor, Satellite), T-B2
- 2006: CT350 Comet S
- 2007: CT350 Comet R, CT3xx Power Rack
- 2009: CT350 Comet T, TestOS4
- 2010: CT300 Satellite opt, UIF
- 2011: High Voltage Relaismatrix SC370
- 2013: CT350 Comet C
- 2015: UEM3, XPR5, DM300-32HV, Göpel-BST-Integration
- 2017: SA5-E, AM30-4B, CDM24
- 2020: CT350 Comet T EH mit Paralleltest, Module DM1G, XIMP20, PSM2M, TCP/IP-Interface

## Kontakt

- Wolfener Str. 32-34 / Haus J
- 12681 Berlin
- +49 30 567 016 69
- info@dr-eschke.de