# ELLCIE Industries GmbH

> Hersteller des Large-Chamber-Rasterelektronenmikroskops MIRA für zerstörungsfreie Prüfung großer Bauteile

## Auf einen Blick

- **Ort:** Grevesmühlen
- **Website:** https://www.ellcie.com
- **Verfahren:** Raster-Elektronenmikroskopie (LC-SEM) / Materialanalyse inkl. EDS, EBSD, optional FIB, FT-IR,, Nicht-destruktive Prüfung (NDT), In-situ-Analyse inkl. Ermüdungstests im SEM, EDS- und EBSD-Analytik, Optionale FIB-, FT-IR- und Kamerasysteme, Großkomponenten-Inspektion bis 1500 mm Durchmesser / 300 kg, Fehleranalyse (Failure Analysis), 3D-Druck-Modell (STL) des MIRA-Systems, Mobile Infrastruktur für Katastrophenschutz (Conterbase: Strom, Satellitenkommunikation, Digital
- **Werkstoffe:** Large Chamber Scanning Electron Microscopy, Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy, Electron Backscatter Diffraction, In-situ-Ermüdungstest, Focused Ion Beam (optional), Fourier-Transform-Infrarotspektroskopie (optional)
- **Zertifikate:** Auflösung <10 nm bei 300.000-facher Vergrößerung, Wiederholgenauigkeit Positionierung ±50 µm, Aktives Dämpfungssystem
- **Branchen:** Luft- und Raumfahrt, Verteidigungstechnik, Automotive, Materialwissenschaft und Forschung, Elektronik/Halbleiter, Medizintechnik, Forensik, Kulturerbe/Archäologie, Katastrophenschutz/öffentliche Hand, Raumfahrt, Luft- und Raumfahrt (Aerospace), Katastrophenschutz / öffentliche Hand
- **Profil:** https://amplifa-marketplace.com/anbieter/ellcie-industries

## Über uns

ELLCIE Industries GmbH mit Sitz in Grevesmühlen entwickelt und fertigt das Large Chamber Scanning Electron Microscope (LC-SEM) MIRA, ein Rasterelektronenmikroskop mit Glockenkammer für die zerstörungsfreie Prüfung (NDT) und Materialanalyse sehr großer Proben. Das System ermöglicht die direkte Untersuchung intentionaler Komponenten bis 1500 mm Durchmesser und 300 kg Masse, ohne destruktive Probenahme oder Demontage. Kernmerkmale sind ein patentiertes 5+1-Achsen-Positioniersystem, eine Auflösung unter 10 nm, integrierte EDS- und EBSD-Analytik sowie optionale FIB-, FT-IR- und Kamerasysteme. Ein besonderes Merkmal ist die Möglichkeit von Ermüdungstests (Fatigue Testing) in-situ innerhalb der Vakuumkammer. Neben der Mikroskopie-Sparte entwickelt ELLCIE mit Conterbase mobile Infrastruktur für den Katastrophenschutz, die Strom, Satellitenkommunikation, Digital Signage, Beleuchtung und Ladeinfrastruktur bereitstellt. Abnehmer branchen sind Raumfahrt, Verteidigung, Automotive, Materialwissenschaft, Elektronik, Medizintechnik, Forensik, Kulturdenkmalpflege sowie Behörden und Hilfsorganisationen.

## Verfahren & technische Grenzen

- Raster-Elektronenmikroskopie (LC-SEM) / Materialanalyse inkl. EDS, EBSD, optional FIB, FT-IR,, Toleranz ±50 µm (Wiederholgenauigkeit Positionierung), max. Länge 1500 mm

## Maschinenpark

- Large Chamber Scanning Electron Microscope (LC-SEM) ELLCIE Industries MIRA

## Standorte

- Grevesmühlen – Produktionsstandort / Firmensitz

## Historie

- : Gründung durch Dipl.-Ing. Martin Klein; Spezialisierung auf Rasterelektronenmikroskopie mit Großkammer für Weltraum- und Verteidigungsanwendungen.

## Kontakt

- Grüner Weg 8
- 23936 Grevesmühlen
- 03881-755400
- info@ellcie.com