# IONTOF GmbH

> Entwicklung und Fertigung von TOF-SIMS- und LEIS-Instrumenten für Oberflächenanalyse sowie analytischer Service in Kooperation mit Tascon.

## Auf einen Blick

- **Ort:** Münster
- **Website:** https://iontof.com
- **Gegründet:** 1989
- **Verfahren:** TOF-SIMS (Time-of-Flight Sekundärionen-Massenspektrometrie) - Oberflächenanalyse,, LEIS (Low Energy Ion Scattering) - quantitative Charakterisierung der obersten Atomlage, TOF MS/MS mit CID-Fragmentierung zur Molekülstrukturaufklärung, Dual Beam Tiefenprofilierung, In-situ SPM (Scanning Probe Microscopy) kombiniert mit SIMS, Orbitrap SIMS für organische SIMS-Anwendungen, Probenerwärmung und -kühlung während der Analyse (closed-loop), Analytischer Service (Oberflächenanalyse, in Kooperation mit Tascon; auch XPS und optische, Analytischer Service (in Kooperation mit Tascon), Service und weltweiter Support rund um die Uhr, Remote Support, Software-Updates und Downloadbereich, Schulungen (IONTOF User School), Group mit vier Unternehmen in Deutschland, USA und Japan
- **Werkstoffe:** Metalle, Halbleiter, Polymere, Glas, Keramik, Biomaterialien, Pharmazeutika, Farben und Beschichtungen, Papier, Katalysatoren, organisches Gewebe, TOF-SIMS (Time-of-Flight Sekundärionen-Massenspektrometrie), LEIS (Low Energy Ion Scattering), TOF MS/MS mit CID-Fragmentierung, In-situ SPM kombiniert mit SIMS, Orbitrap SIMS, Dual-Beam-Tiefenprofilierung
- **Zertifikate:** Analytischer Service (TOF-SIMS, LEIS, XPS), ISO 9001
- **Branchen:** Halbleiter, Polymere, Lacke und Beschichtungen, Biomaterialien, Pharma, Glas, Papier, Metalle, Katalysatoren
- **Profil:** https://amplifa-marketplace.com/anbieter/iontof

## Über uns

Die IONTOF GmbH mit Sitz in Münster entwickelt und fertigt Instrumente für die Oberflächenanalyse auf Basis von Ionenstrahltechnik. Das Produktportfolio umfasst TOF-SIMS-Instrumente (Time-of-Flight Sekundärionen-Massenspektrometrie) der Reihen M6, M6 Plus und M6 Hybrid SIMS sowie das LEIS-Instrument Qtac für die quantitative Charakterisierung der obersten Atomlage (Low Energy Ion Scattering). Die Geräte ermöglichen Oberflächenspektroskopie, Oberflächenimaging, Tiefenprofilierung im Dual-Beam-Modus, 3D-Analyse, retrospektive Analyse sowie TOF MS/MS mit CID-Fragmentierung; die M6 Plus-Plattform kombiniert SIMS mit In-situ-Rastermikroskopie (SPM). Zu den analysierten Materialklassen zählen Metalle, Halbleiter, Polymere, Glas, Keramik, Biomaterialien und Pharmazeutika. Anwendungen finden sich in Branchen wie Halbleiter, Pharmazie, Lacke und Beschichtungen, Papier und Katalyse. Für analytischen Service kooperiert IONTOF eng mit der Schwesterfirma Tascon in Münster; die IONTOF-Gruppe umfasst vier Unternehmen in Deutschland, den USA und Japan. Der Hauptsitz liegt im Technologiehof nahe der Universität Münster.

## Verfahren & technische Grenzen

- TOF-SIMS (Time-of-Flight Sekundärionen-Massenspektrometrie) - Oberflächenanalyse,
- LEIS (Low Energy Ion Scattering) - quantitative Charakterisierung der obersten Atomlage
- TOF MS/MS mit CID-Fragmentierung zur Molekülstrukturaufklärung
- Dual Beam Tiefenprofilierung
- In-situ SPM (Scanning Probe Microscopy) kombiniert mit SIMS
- Orbitrap SIMS für organische SIMS-Anwendungen
- Probenerwärmung und -kühlung während der Analyse (closed-loop)
- Analytischer Service (Oberflächenanalyse, in Kooperation mit Tascon; auch XPS und optische

## Maschinenpark

- TOF-SIMS Instrument (High-End) IONTOF M6
- TOF-SIMS + In-situ SPM Plattform IONTOF M6 Plus
- TOF-SIMS/Orbitrap Kombinationsinstrument IONTOF M6 Hybrid SIMS
- LEIS Instrument (Low Energy Ion Scattering) IONTOF Qtac
- Bismut-Cluster-Ionenquelle (bis 40 pA gepulst, laterale Auflösung < 50 nm, bis 50 kHz) IONTOF Nanoprobe 50

## Standorte

- Münster – Hauptsitz mit Entwicklung, Fertigung und Montage der Instrumente

## Historie

- 1989: Gründung durch Prof. Alfred Benninghoven, Dr. Ewald Niehuis und Thomas Heller zur Kommerzialisierung der TOF-SIMS-Forschung der Universität Münster
- 1997: Gründung der Schwesterfirma Tascon als spezialisiertes TOF-SIMS-Prüflabor

## Kontakt

- Heisenbergstraße 15
- 48149 Münster
- +49 251 1622-100
- sales@iontof.com