# Nova Ltd.

> Metrologie- und Prozesskontrolllösungen für die Halbleiterfertigung: Material-, optische und chemische Messtechnik sowie Software.

## Auf einen Blick

- **Website:** https://www.novami.com/
- **Verfahren:** Dimensional Metrology (Optical Interferometry), Dimensional Metrology (Optical Scatterometry), Advanced Imaging, Hybrid Metrology, Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS), X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS), X-Ray Fluorescence (XRF), Raman Spectroscopy, Chemical Metrology / Titration, Optical Spectrophotometry, High-Performance Liquid Chromatography (HPLC), Cyclic Voltammetric Stripping (CVS), Modeling Software (Physical Modeling, Machine Learning, HPC), Material-Metrologie, Optische Metrologie, Chemische Metrologie, Software-Lösungen (Modellierung, Machine Learning, HPC)
- **Werkstoffe:** Dimensional Metrology (Optische Interferometrie, Scatterometry), Advanced Imaging, Hybrid Metrology, Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS), Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS), Röntgenfluoreszenz (XRF), Raman-Spektroskopie, Titration, Optische Spektrophotometrie, Hochleistungs-Flüssigchromatographie (HPLC), Cyclic Voltammetric Stripping (CVS), Modellierungssoftware (Physical Modeling, Machine Learning, HPC)
- **Branchen:** Halbleiterfertigung, Advanced Packaging, DRAM, Logik & Memory, Künstliche Intelligenz
- **Profil:** https://amplifa-marketplace.com/anbieter/nova-ltd

## Über uns

Nova ist Anbieter von Metrologie- und Prozesskontrolllösungen für die Halbleiterfertigung. Das Portfolio umfasst Dimensional Metrology (optische Interferometrie, Scatterometry, Advanced Imaging, Hybrid Metrology), Materials Metrology (SIMS, XPS, XRF, Raman-Spektroskopie) sowie Chemical Metrology (Titration, optische Spektrophotometrie, HPLC, CVS) für Backend-Wafer-Level-Packaging und Frontend-Prozessschritte wie Dual-Damascene. Ergänzend bietet Nova Software-Lösungen auf Basis physikalischer Modellierung, Machine Learning und High-Performance Computing für komplexe 3D- und HAR-Strukturen. Die Plattformen liefern In-line-Messdaten, die Herstellern dabei helfen, Bauteilleistung, Ausbeute und Time-to-Market zu verbessern. Zielbranchen sind unter anderem Advanced Packaging, Waferfertigung, DRAM sowie Logik- und Memory-Technologien im Umfeld künstlicher Intelligenz.

## Verfahren & technische Grenzen

- Dimensional Metrology (Optical Interferometry)
- Dimensional Metrology (Optical Scatterometry)
- Advanced Imaging
- Hybrid Metrology
- Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)
- X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)
- X-Ray Fluorescence (XRF)
- Raman Spectroscopy
- Chemical Metrology / Titration
- Optical Spectrophotometry
- High-Performance Liquid Chromatography (HPLC)
- Cyclic Voltammetric Stripping (CVS)
- Modeling Software (Physical Modeling, Machine Learning, HPC)

## Maschinenpark

- Metrologie-Plattform Dimensional Metrology Nova Nova i500
- Metrologie-Plattform Dimensional Metrology Nova Nova i570 HP
- Metrologie-Plattform Dimensional Metrology Nova Nova i550
- Metrologie-Plattform Dimensional Metrology Nova Nova T550
- Metrologie-Plattform Dimensional Metrology Nova Nova T500
- Metrologie-Plattform Nova Nova WMC
- Metrologie-Plattform Nova Nova MMSR+
- Metrologie-Plattform Nova Nova Prism
- Metrologie-Plattform Nova Nova VeloCD
- Metrologie-Plattform Materials Metrology Nova Nova VeraFlex III+
- Metrologie-Plattform Materials Metrology Nova Nova VeraFlex IV
- Metrologie-Plattform Materials Metrology Nova Nova VeraFlex III
- Metrologie-Plattform Nova Nova RACS
- Metrologie-Plattform Nova Nova QED
- Metrologie-Plattform Nova Nova Metrion
- Metrologie-Plattform Nova Nova Elipson
- Chemical Metrology Plattform Nova Nova Ancolyzer
- Chemical Metrology Plattform Nova Nova AncoScene
- Chemical Metrology Plattform Nova Nova AncoFlex
- Chemical Metrology Plattform Nova Nova DMR
- Software-Plattform Nova Nova MARS
- Software-Plattform Nova Nova Fit
- Software-Plattform Nova Nova Hub
- Metrologie-Plattform Dimensional Metrology Nova Nova i580
- Metrologie-Plattform Dimensional Metrology Nova Nova SemDex Series