# SilTest Semiconductors GmbH

> AI-Tools und Engineering-Dienstleistungen für Halbleitertest, von Design for Test bis Yield-Management im Volumen.

## Auf einen Blick

- **Ort:** Kleve
- **Website:** https://siltest.com
- **Verfahren:** Design for Test (Scan, BIST, Boundary Scan, ATPG), ATE Test Program Development / Test Engineering (wafer, final, system-level test), Hardware Design (Load Boards, Probe Cards, HTOL/Burn-in Boards), Packaging and Qualification (Qualifizierung, Charakterisierung, Reliability Testing), Yield Management (Failure Analysis, Drift Analysis, Gage R&R, ATE-to-Bench Correlation), AI-Testdatenanalyse (VISTAR, YieldOptiX, DefectOptiX, STDF Quick Viewer, CertOptiX), Hardware Design (Load Boards, Probe Cards, Substrate-Design, SI/PI), Test Engineering (NPI, Debug, Charakterisierung, ATE-Programmentwicklung), Packaging and Qualification (MPW/SPW-Assembly, Qual, Charakterisierung, Release), Yield Management (Datenanalyse, Failure Analysis, Sustaining), SilTest Academy (Schulungen in Halbleitern und ATE), KI-Tools: VISTAR, YieldOptiX, STDF Quick Viewer, DefectOptiX, CertOptiX
- **Werkstoffe:** Design for Test (Scan, BIST, Boundary Scan, ATPG), ATE-Testprogramm-Entwicklung (Wafer, Final, System-Level), Hardware Design (Load Boards, Probe Cards, Substrate-Design), Packaging and Qualification, Yield Management
- **Branchen:** Halbleiter, Automotive (ADAS, Power), Data Center und Networking, KI/Beschleuniger, Photonik, Defense und Aerospace
- **Profil:** https://amplifa-marketplace.com/anbieter/siltest-semiconductors

## Über uns

SilTest Semiconductors GmbH ist ein auf Halbleitertest spezialisiertes Engineering-Unternehmen mit Sitz in Kleve. Das Unternehmen entwickelt und lizenziert KI-Tools wie VISTAR, YieldOptiX, STDF Quick Viewer, DefectOptiX und CertOptiX, die den manuellen Aufwand in Chip-Test und Produktion reduzieren – von der Testprogramm-Generierung über Datenanalyse bis zur outgoing-quality-Modellierung. Ergänzend bietet SilTest Engineering-Dienstleistungen entlang des gesamten Produktflusses: Design for Test (Scan, BIST, Boundary Scan, ATPG), Hardware-Design für Load Boards und Probe Cards, Test Engineering von der NPI bis zur Serienproduktion, Packaging and Qualification sowie Yield Management mit Failure Analysis. Die Ingenieure arbeiten plattformübergreifend auf gängigen ATE-Testern von Advantest, Teradyne, NI und Chroma bei Wafer-, Final- und System-Level-Test. Anwendungen finden sich in Automotive (ADAS, Power), Data Center, KI-Beschleunigern, Photonik sowie Defense und Aerospace. Das Unternehmen wurde am Qatar Science and Technology Park inkubiert und betreibt drei Engineering-Hubs in Kleve, Doha und Bangalore.

## Verfahren & technische Grenzen

- Design for Test (Scan, BIST, Boundary Scan, ATPG)
- ATE Test Program Development / Test Engineering (wafer, final, system-level test)
- Hardware Design (Load Boards, Probe Cards, HTOL/Burn-in Boards)
- Packaging and Qualification (Qualifizierung, Charakterisierung, Reliability Testing)
- Yield Management (Failure Analysis, Drift Analysis, Gage R&R, ATE-to-Bench Correlation)
- AI-Testdatenanalyse (VISTAR, YieldOptiX, DefectOptiX, STDF Quick Viewer, CertOptiX)

## Maschinenpark

- ATE Tester Advantest V93000 (V93K)
- ATE Tester Advantest T2000
- ATE Tester Teradyne UltraFLEXplus
- ATE Tester Teradyne J750
- ATE Tester Teradyne ETS-800
- ATE Tester Teradyne ETS-88
- ATE Tester LTX Chroma
- ATE Tester NI
- ATE Tester Chroma

## Standorte

- Kleve – Zentrale (Headquarters), Engineering, SilTest Academy
- Doha – Engineering und regionale Arbeit, Qatar Science and Technology Park
- Bangalore – Engineering

## Historie

- : Inkubiert am Qatar Science and Technology Park (QSTP), High-Tech Accelerator Alumni
- : Über 30 unterstützte Product Ramps

## Kontakt

- Lindenstraße 64
- 47533 Kleve
- +49 2821 5904460
- info@siltest.com