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AdMOS entwickelt Messsysteme, Halbleiter-Messlabor, SPICE-Modelle und Software für die Halbleiter- und Elektronikentwicklung.
AdMOS GmbH
Frickenhausen (Hauptsitz mit eigenem Halbleiter-Messlabor)Neu auf Amplifa
Über AdMOS
Die AdMOS GmbH (Advanced Modeling Solutions) wurde 1997 von Dr. Thomas Gneiting gegründet und ist ein spezialisiertes Technologieunternehmen für die Halbleiter- und Elektronikentwicklung. Seit über 25 Jahren verbindet AdMOS Halbleiterexpertise mit praktischer Ingenieurarbeit: Das Unternehmen unterstützt Kunden aus Halbleiter- und Elektronikentwicklung mit belastbaren Messdaten, verlässlichen Modellen und technischer Bewertung anspruchsvoller Bauelemente, Designs und Verbindungssysteme. Im firmeneigenen Halbleiter-Messlabor in Frickenhausen werden elektrische Charakterisierungen auf Wafer- und Boardebene durchgeführt, darunter DC- und CV-Messungen, Low-Frequency-Noise- und 4-Port-S-Parameter-Messungen sowie Temperaturcharakterisierung im Bereich von -60 °C bis +205 °C. Ein besonderes Kompetenzfeld ist die 1/f-Noise-Charakterisierung, für die AdMOS ein eigenes Messsystem (3002A Flicker-Noise-Measurement System) entwickelt hat. Darüber hinaus bietet das Unternehmen kundenspezifische SPICE-Modelle und Bauteilbibliotheken für moderne Halbleitertechnologien (CMOS, RF-CMOS, FinFET, GaN, InP), simulationsgestützte Designanalyse (Signalintegrität, Thermik, EMV) sowie technische Softwareentwicklung. AdMOS beteiligt sich seit vielen Jahren an nationalen und europäischen Forschungsprojekten in der Halbleiter-, Hochfrequenz- und Quantentechnologie, unter anderem mit kryogenen SPICE-Modellen für Quantensysteme.
- Standort
- Frickenhausen
- Verfahren
- Flicker-Noise-Messung / 1/f-Rauschen und Low-Frequency-Noise Charakterisierung, SPICE- und CMOS-Modellierung (kundenspezifische SPICE-Modelle und Bauteilbibliotheken), DC- und CV-Messungen an Halbleiterbauelementen (Wafer- und Boardebene), Low-Frequency-Noise-Messung und Rauschmodellierung, 4-Port-S-Parameter-Messungen (HF-Analysen auf Wafer- und Board-Level), Temperaturcharakterisierung (-60 ℃ bis +205 ℃), Softwareentwicklung für Messung, Analyse und Modellierung, Designanalyse (Signalintegrität, Wärme, EMV; passive Bauelemente auf Leiterplatten- und Chipebene)
- Werkstoffe
- CMOS, RF-CMOS, FinFET, GaN, InP, Silizium (ultradünne Siliziumchips)
- Zertifikate
- ISO 9001
- Gegründet
- 1997
- Branchen
- Halbleiterindustrie, Elektronikentwicklung, Hochfrequenztechnik, Quantentechnologie, Automotive-Elektronik (HV-Verbindungen), Photonik
- 01
Elektrische Messung (DC/CV, Noise, S-Parameter) auf Wafer- und Boardebene
- 02
Parameterextraktion und Messdatenauswertung
- 03
SPICE-Modellierung und Erstellung von Bauteilbibliotheken
- 04
Simulationsgestützte Designanalyse (Signalintegrität, Thermik, EMV)
- 05
Softwareentwicklung und Systemintegration
- 06
Dokumentation und Report für den Kunden
Technologien und Werkstoffe
CMOS
Modellierung und Charakterisierung von CMOS-Transistoren, auch kryogen für Quantentechnologie
RF-CMOS
Modellierung von RF-Effekten auf Basis von S-Parametern, Rauschen und nichtlinearem Verhalten
FinFET
Messdatenbasierte SPICE-Modelle für moderne FinFET-Technologien
GaN
Modellierung von Hochvolt-, Power- und GaN-Bauelementen
InP
SPICE-Modelle für InP-basierte Hochfrequenzbauelemente für 6G-, Photonik- und KI-Anwendungen
Silizium (ultradünne Siliziumchips)
Modellierung und Simulation flexibler Mikrosysteme mit ultradünnen Siliziumchips
Standorte
Frickenhausen
DEHauptsitz mit eigenem Halbleiter-Messlabor
- Werkstoffe
- CMOS, RF-CMOS, FinFET, GaN, InP
- AdMOS 3002A Flicker-Noise-Measurement System (3012 Filter Unit + 3023 Control Unit)
- Suess PA200 Halbautomatische Probestation (Wafer bis 200 mm)
- Cascade Microtech PA300 Halbautomatische Probestation (Wafer bis 300 mm)
- Board-Level-Messplatz (manuell)
Produkte und Leistungen
Einblicke in die Fertigung
Branchen
Verfahren & technische Grenzen
| Verfahren | Toleranz | Max. Bauteil | Gewicht | Losgröße | Werkstoffe |
|---|---|---|---|---|---|
| Flicker-Noise-Messung / 1/f-Rauschen und Low-Frequency-Noise CharakterisierungPrüfung | – | – | – | – | Halbleiterbauelemente |
| SPICE- und CMOS-Modellierung (kundenspezifische SPICE-Modelle und Bauteilbibliotheken)Engineering | – | – | – | – | CMOS, RF-CMOS, FinFET, GaN, InP |
| DC- und CV-Messungen an Halbleiterbauelementen (Wafer- und Boardebene)Prüfung | – | – | – | – | Halbleiterbauelemente |
| Low-Frequency-Noise-Messung und RauschmodellierungPrüfung | – | – | – | – | Halbleiterbauelemente |
| 4-Port-S-Parameter-Messungen (HF-Analysen auf Wafer- und Board-Level)Prüfung | – | – | – | – | Halbleiterbauelemente |
| Temperaturcharakterisierung (-60 ℃ bis +205 ℃)Prüfung | – | – | – | – | Halbleiterbauelemente |
| Softwareentwicklung für Messung, Analyse und ModellierungEngineering | – | – | – | – | – |
| Designanalyse (Signalintegrität, Wärme, EMV; passive Bauelemente auf Leiterplatten- und Chipebene)Engineering | – | – | – | – | – |
| Simulation und Beratung für HV- und High-Speed-SteckverbindungenEngineering | – | – | – | – | – |
4 Anlagen & Maschinen
| Maschine | Hersteller / Modell | Anzahl | Arbeitsraum | Baujahr | Standort |
|---|---|---|---|---|---|
| Flicker-Noise-Measurement System (3012 Filter Unit + 3023 Control Unit) | AdMOS 3002A | – | Frequenzbereich 0,1 Hz bis 10 MHz, DC-Bias ±50V / ±100mA | – | Frickenhausen |
| Halbautomatische Probestation (Wafer-Prober) | Suess PA200 | – | Wafer bis 200 mm | – | Frickenhausen |
| Halbautomatische Probestation (Wafer-Prober) | Cascade Microtech PA300 | – | Wafer bis 300 mm | – | Frickenhausen |
| Board-Level-Messplatz (manuell) | – | – | – | – | Frickenhausen |
Zusatzleistungen
Qualität
AdMOS arbeitet mit strukturierten Entwicklungsprozessen, Code Reviews, Unit Tests, Integrationstests und Regressionstests in der Softwareentwicklung. Die elektrische Charakterisierung erfolgt mit reproduzierbaren Messungen auf Wafer- und Boardebene im firmeneigenen Messlabor.
| Nachweis | Frickenhausen |
|---|---|
| ISO 9001 |
Historie
- 1997
Gründung von AdMOS durch Dr. Thomas Gneiting auf Basis seiner Dissertation
- 2007
Bezug des Firmengebäudes in Frickenhausen mit eigenem Messlabor und speziell ausgestatteten Entwicklungsarbeitsplätzen
- 2025
AdMOS wird Teil der SpringPeak Ventures GmbH; Geschäftsführung erweitert