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Automatisierte Qualitätskontroll-Scanner und Prüflabore für industrielle Kristalle wie Saphir, SiC und Glas.
Scientific Visual SA
Chemin du Closel 5, CH-1020 Renens (Lausanne) · Ferney-Voltaire (F), PostkorrespondenzadresseNeu auf Amplifa
Automatisierte Kristall-Qualitätskontrolle aus der Schweiz
Scientific Visual SA ist ein Schweizer Unternehmen mit Sitz in Renens bei Lausanne, das automatisierte Qualitätskontrollsysteme für industrielle Kristalle entwickelt und vertreibt. Die Scanner-Suite umfasst SapphiroScan™ für Saphir-Uhrenabdeckungen (Durchsatz bis 1 Million Teile pro Jahr), SapphiroScope™ für Ingots und Kerne bis ∅8" (u. a. LED-Substrate und Optik), TotalScan™ für Rohkristall-Boules bis 400 kg und ⌀22" mit CNC-G-Code-Ausgabe, CarrotScan™ für Verneuil-gewachsene Saphir-Karotten (⌀22–62 mm) sowie SiC-Scanner. Die Geräte visualisieren Volumendefekte wie Blasen, Risse und Wolken per 3D-Tomographie noch vor dem teuren Slicing und Polieren und ermöglichen so eine objektive, nachvollziehbare Sortierung. Im eigenen Labor in Lausanne werden Auftragsprüfungen mit Defektverteilungsanalysen, Grading, Schnittkarten und 3D-Modellen angeboten, ergänzt durch Prozessoptimierung (Batch Quality Signature™) und die YieldPro™-Software für 3D-Metrologie. Kunden stammen aus der Uhren-, Halbleiter- und Smartphone-Industrie sowie der Optik; Vertriebs- und Korrespondenzsprachen sind Englisch, Französisch, Deutsch und Chinesisch.
- Standort
- Renens (Lausanne), Schweiz
- Verfahren
- Automatisierte Qualitätskontrolle / Defektinspektion von Saphir-Uhrgläsern (SapphiroScan™, nicht, 3D-Tomographie-Inspektion von Ingots/Kernen vor dem Wafering (SapphiroScope™), 4-Achsen-3D-Scanning großer Rohkristall-Boules mit Kerntiefenoptimierung und CNC-G-Code-Erzeugung, Scanning von Verneuil-gewachsenen karottenförmigen Saphirkristallen ⌀22–62 mm (CarrotScan™), Qualitätskontroll-Labor: Defektverteilungsanalyse, Grading, Cutting Maps, CAD-Einschreibungsprüfung, Prozessoptimierung / Batch Quality Signature™ (Batch-Analyse über Produktionsstufen hinweg), YieldPro™ Software zur 3D-Metrologie-Visualisierung und G-Code-Erzeugung für CNC-Kernbohrsysteme, Inspektion von Uhrgläsern/Watch Covers (SapphiroScan™), automatische Defektklassifizierung
- Werkstoffe
- Saphir, Rubin, Spinel, CaF2 / CaF / Fluorite, SiC (Siliziumcarbid), GaN, Quarz, LTO, LTN
- Branchen
- Uhrenindustrie, Halbleiter (SiC, GaN, Mikro-LED, LED-Substrate), Smartphone-Hersteller, Optik, Wafer-/Substratfertigung
- 01
Eingangsprüfung des Rohkristalls (Pre-form, Ingot, Boule, Karotte)
- 02
Automatisierte 3D-Tomographie-Scannung (SapphiroScan™, SapphiroScope™,
- 03
Automatische Defekterkennung, Klassifizierung und Grading (PASS/FAIL-Sortierung)
- 04
Berichtserstellung: Defektverteilung, Schnittkarten, 3D-Modelle, G-Code-Ausgabe
- 05
Prozessoptimierung / Batch Quality Signature™-Analyse
- 06
Vertrieb geprüfter Saphir-Boules über den Marktplatz market.sapphire.space
Standort und Labor
Renens (Lausanne)
CHBüro und Labor mit Scannern für Demonstrations- und Prüfleistungen
- Stückgewicht / Größe
- Prüfteile bis 400 kg / ⌀22" (TotalScan™)
- Losgröße
- Einzelteile bis mehrere hundert Teile pro Batch (Batch Quality Signature™)
- Werkstoffe
- Saphir, Rubin, Spinel, CaF2, SiC, Quarz, Glas, Laserkristalle, transparente Keramiken
- SapphiroScan™ (Automatisierte Inspektionsstation für Uhrgläser, 741 × 741 × 895 mm, 70 kg)
- SapphiroScope™ (Inspektionsarbeitsplatz für Ingots/Kerne 2"–8")
- TotalScan™ (4-Achsen-Scanner für Boules bis 400 kg / ⌀22", G-Code-Ausgabe)
- CarrotScan™ (Verneuil-Saphir-Karotten ⌀22–62 mm)
- SiC-Scanner
- YieldPro™ Software
Ferney-Voltaire
FRFranzösische Postkorrespondenzadresse (c/o Mail Boxes Etc.)
Branchen
Verfahren & technische Grenzen
| Verfahren | Toleranz | Max. Bauteil | Gewicht | Losgröße | Werkstoffe |
|---|---|---|---|---|---|
| Automatisierte Qualitätskontrolle / Defektinspektion von Saphir-Uhrgläsern (SapphiroScan™, nichtPrüfung | – | – | – | 1M Stück/Jahr (SapphiroScan™ | Saphir |
| 3D-Tomographie-Inspektion von Ingots/Kernen vor dem Wafering (SapphiroScope™)Prüfung | – | – | – | – | Saphir, Rubin, Transparente Keramiken, LTO, LTN, Quarz, Laserkristalle, Borosilikatglas |
| 4-Achsen-3D-Scanning großer Rohkristall-Boules mit Kerntiefenoptimierung und CNC-G-Code-ErzeugungPrüfung | – | ⌀22" (560 mm) | 400 kg | – | Saphir, Rubin, CaF2, Transparente Keramiken, LT und LN, Quarz, Laserkristalle, Borosilikatglas |
| Scanning von Verneuil-gewachsenen karottenförmigen Saphirkristallen ⌀22–62 mm (CarrotScan™)Prüfung | – | – | – | – | Saphir |
| Qualitätskontroll-Labor: Defektverteilungsanalyse, Grading, Cutting Maps, CAD-EinschreibungsprüfungPrüfung | nicht poliert oder poliert | – | – | – | Saphir, Spinel, Rubin, CaF, Halbleiter, Mineralglas, YAG |
| Prozessoptimierung / Batch Quality Signature™ (Batch-Analyse über Produktionsstufen hinweg)Engineering | 'As cut', lapped/ground oder poliert | – | – | mehrere hundert Teile pro Batch | Saphir, Spinel, Mineralglas |
| YieldPro™ Software zur 3D-Metrologie-Visualisierung und G-Code-Erzeugung für CNC-KernbohrsystemeEngineering | – | – | – | – | – |
| Inspektion von Uhrgläsern/Watch Covers (SapphiroScan™), automatische DefektklassifizierungPrüfung | poliert und nicht poliert | – | – | bis 1 Mio. Teile pro Jahr | Saphir, Rubin, Glas, Fluorite, SiC, Halbleiterkristalle |
6 Anlagen & Maschinen
| Maschine | Hersteller / Modell | Anzahl | Arbeitsraum | Baujahr | Standort |
|---|---|---|---|---|---|
| Automatisierte Inspektionsstation für Saphir-Uhrgläser mit Robotikhandling, 3D-Tomographie-Modus | Scientific Visual SapphiroScan™ | – | Abmessungen 741 x 741 x 895 mm (WxLxH) | – | Lausanne, Schweiz |
| Automatisierter Inspektionsarbeitsplatz für Ingots/Pre-forms (3D-Defektmodell, | Scientific Visual SapphiroScope™ | – | Zylinder-Ingoten und rechteckige Bricks 2", 4", 6", 8" oder kundenspezifisch | – | Lausanne, Schweiz |
| 4-Achsen-Scanner für große Rohkristall-Boules mit CNC-G-Code-Ausgabe | Scientific Visual TotalScan™ | – | max. 400 kg, max. Durchmesser 22" (560 mm) | – | Lausanne, Schweiz |
| Scanner für Verneuil-gewachsene Saphir-Carrots (Defektvideo/Inspektion) | Scientific Visual CarrotScan™ | – | ⌀22–62 mm karottenförmige Kristalle | – | Lausanne, Schweiz |
| SiC-Scanner (optische Inspektionstechnologie für SiC) | Scientific Visual | – | – | – | – |
| 3D-Metrologie-Software für optische und akustische (SAM) Scanner | Scientific Visual YieldPro™ | – | – | – | – |
Zusatzleistungen
Referenzkunden
Firmenhistorie
- 2016
Vortrag von CEO Ivan Orlov über Saphir-Qualitätskontrolle auf dem CIOE in Shenzhen, China (Second International Sapphire Forum).
- 2020
Einführung der automatisierten Inspektionstechnologie für Verneuil-gewachsene Saphir-Karotten (CarrotScan™); Förderung durch EIT RawMaterials und den Schweizer Technology Fund.
- 2022
Präsentation von Frédéric Falise über die ökologische Auswirkung von Saphir-Uhrenabdeckungen am International Congress of Chronometry.
EIC Accelerator Horizon 2020: 2,6 Mio. € Zuschuss; investorenfinanziertes Unternehmen mit mehreren Finanzierungsrunden.