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Technologierepräsentanz und Sourcing-Plattform für Halbleiter-Anlagen, Metrologie, Inspektion und Ersatzteile in Europa
Seteco
FreiamtNeu auf Amplifa
Über Seteco
Seteco wurde 2004 in Freiamt (Schwarzwald) gegründet und ist als Einzelunternehmen exklusiv in der Halbleiterbranche tätig. Das Unternehmen verbindet Anbieter von Halbleitertechnologie mit europäischen Fabs, OEMs und Forschungsinstituten durch Technologierepräsentanz, technischen Vertrieb, Ersatzteilbeschaffung und Anlagenlösungen. Offiziell vertreten wird GTI (METREX) mit remanufactured CD-SEM-, DR-SEM- und Darkfield-Inspektionssystemen auf Applied-Materials-Basis, Comet mit 2D- und 3D-Röntgen-/CT-Inspektionssystemen sowie CMTec mit gebrauchten und aufgearbeiteten Wire- und Die-Bondern samt Pull- und Shear-Testern. Daneben betreibt Seteco eine eigene Sourcing-Plattform mit über 1000 Ersatzteilen auf Lager für Plattformen von August/Rudolph Technologies (ONTO), KLA Tencor, AMAT und Comet Yxlon und beschafft schwer auffindbare, obsolete Komponenten über ein europäisches und weltweites Partnernetzwerk. Ergänzend bietet das Unternehmen Software-Lösungen für Datenanalyse, Defect Mapping und Recipe Management sowie technische Beratung zur Markterschließung in Europa. Kunden stammen aus Halbleiterindustrie, Electronics, Automotive, Power Electronics, MEMS und Sensorik.
- Standort
- Freiamt
- Verfahren
- CD-SEM Messung (Critical Dimension Metrology), Defect Review DR-SEM, Darkfield Patterned Wafer Inspection (Defekte ab 70 nm), Wafer- und Maskeninspektion (remanufactured Platforms), 2D & 3D X-Ray / CT Inspektion (zerstörungsfreie Prüfung), Wire Bonding (refurbished Anlagen), Die Bonding (refurbished Anlagen), Pull & Shear Testing (Bond-Tests)
- Werkstoffe
- SiC (Siliziumkarbid), GaAs (Galliumarsenid), InP (Indiumphosphid), Glas (Substrate), III-V-Halbleiter
- Gegründet
- 2004
- Branchen
- Halbleiterindustrie, Fabs, OEMs, Advanced Packaging, Electronics, Automotive
- 01
Technologierepräsentanz & Business Development
- 02
Technischer Vertrieb
- 03
Ersatzteil-Sourcing (Lager, Partnernetzwerk, Beschaffung)
- 04
Refurbished Equipment & Inspektionssysteme
- 05
Service, Training & Applications Support
- 06
Software & technische Beratung
Werkstoffe & Anwendungen
SiC (Siliziumkarbid)
Substratmaterial, das per CD-SEM-Metrologie auf Applied-Materials-Plattformen gemessen wird.
GaAs (Galliumarsenid)
Verbundhalbleiter-Substrat, geeignet für Metrologie und Defect Review.
InP (Indiumphosphid)
III-V-Substrat, das von GTI-Metrologiesystemen abgedeckt wird.
III-V-Halbleiter
Materialklasse für Compound-Substrate im CD-SEM- und DR-SEM-Einsatz.
Glas (Substrate)
Glassubstrate, die im Rahmen der Critical-Dimension-Metrologie bearbeitet werden.
Standorte
Freiamt
DEHauptsitz, Vertrieb & Repräsentanz
- CD-SEM / DR-SEM Metrologiesysteme (GTI/METREX, VERITY NextGEN, SEMVision NextGEN)
- Darkfield-Inspektionssysteme (Compass, Complus, WF)
- 2D & 3D Röntgen-/CT-Inspektionssysteme (Comet CA20, Cheetah EVO, FF series)
- Wire Bonder / Die Bonder (refurbished, CMTec)
- Pull & Shear Tester (CMTec)
- Wafer- und Reticle-Inspektionssysteme (remanufactured, RTEX)
- Ersatzteil-Lager (1000+ Teile)
Ersatzteile & Anlagen
Einblicke in die Fertigung
Branchen
Verfahren & technische Grenzen
| Verfahren | Toleranz | Max. Bauteil | Gewicht | Losgröße | Werkstoffe |
|---|---|---|---|---|---|
| CD-SEM Messung (Critical Dimension Metrology)Prüfung | – | – | – | – | SiC, GaAs, InP, Glas, III-V-Halbleiter, Silizium-Wafer |
| Defect Review DR-SEMPrüfung | – | – | – | – | SiC, GaAs, InP, III-V-Halbleiter |
| Darkfield Patterned Wafer Inspection (Defekte ab 70 nm)Prüfung | – | – | – | – | Silizium-Wafer |
| Wafer- und Maskeninspektion (remanufactured Platforms)Prüfung | – | – | – | – | – |
| 2D & 3D X-Ray / CT Inspektion (zerstörungsfreie Prüfung)Prüfung | – | – | – | – | – |
| Wire Bonding (refurbished Anlagen)Fügen | – | – | – | – | – |
| Die Bonding (refurbished Anlagen)Montage | – | – | – | – | – |
| Pull & Shear Testing (Bond-Tests)Prüfung | – | – | – | – | – |
| Spare Parts Sourcing & RefurbishmentEngineering | – | – | – | – | – |
| Technische Beratung / Markterschließung / ProzessberatungEngineering | – | – | – | – | – |
| Software-Lösungen (Datenanalyse, Defect Mapping, Recipe Management)Engineering | – | – | – | – | – |
7 Anlagen & Maschinen
| Maschine | Hersteller / Modell | Anzahl | Arbeitsraum | Baujahr | Standort |
|---|---|---|---|---|---|
| CD-SEM (Critical Dimension SEM) | GTI (METREX, auf Applied Materials Basis) VeritySEM / VERITY NextGEN | – | Wafer 6"/150mm, 8"/200mm, 12"/300mm; Waferdicke bis 2mm | – | Freiamt, Deutschland (Vertrieb/Repräsentanz) |
| DR-SEM Defect Review SEM (mit/ohne FIB) | GTI (METREX, auf Applied Materials Basis) SEMSVision NextGEN | – | Wafer 150-300mm; Waferdicke bis 2mm | – | Freiamt, Deutschland (Vertrieb/Repräsentanz) |
| Darkfield Inspection System | GTI (METREX) Compass / Complus / WF | – | Patterned Wafer, Defekte ab 70 nm | – | Freiamt, Deutschland (Vertrieb/Repräsentanz) |
| 2D & 3D X-Ray / CT Inspektionssysteme | Comet CA20, Cheetah EVO, FF series CT | – | – | – | Freiamt, Deutschland (Vertrieb/Repräsentanz) |
| Wire Bonder / Die Bonder (gebraucht/refurbished) | CMTec AG | – | – | – | Freiamt, Deutschland (Vertrieb) |
| Pull & Shear Tester | CMTec AG | – | – | – | Freiamt, Deutschland (Vertrieb) |
| Wafer- und Reticle-Inspektionssysteme (remanufactured) | RTEX | – | – | – | Freiamt, Deutschland (Vertrieb/Repräsentanz) |
Zusatzleistungen
Historie
- 2004
Gründung in Freiamt mit spezialisiertem Halbleiter-Fokus.
- 2012
GTI (Green Technology Investments) bietet Inspection- und Metrology-Lösungen auf Applied-Materials-Plattformen an.
- 2020er
Über 20 Jahre Präsenz in Halbleiter-Vertrieb & Service, offizielle Repräsentanz von drei Technologiepartnern (GTI, Comet, CMTec).