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Entwicklung und Produktion von GDOES-Spektrometern für Element- und Schichtdickenanalyse fester Materialien
Spectruma Analytik GmbH
Hof (95028) · DeutschlandNeu auf Amplifa
Über Spectruma
Die Spectruma Analytik GmbH mit Sitz in Hof entwickelt und produziert seit über 40 Jahren High-Tech-Instrumente für die Elementanalyse mittels optischer Emissionsspektrometrie mit Glimmentladung (GD-OES). Die GDA-Geräteserie deckt vom kompakten Tischgerät GDA Alpha bis zum Hochleistungsspektrometer GDA 750 HR mit bis zu 79 Elementkanälen das gesamte Spektrum von Bulk- und Tiefenprofilanalyse ab. Mit den Geräten lassen sich Schichtdicken von unter 50 Nanometern bis in Tiefen von 200 Mikrometern messen; Nachweisgrenzen liegen bei 0,1 bis 10 ppm. Analysebar sind leitfähige und über die Hochfrequenzquelle auch nichtleitende Materialien wie Metalle, Gläser, Keramiken, Halbleiter und Polymere. Neben dem Gerätebau bietet Spectruma Auftragsanalysen, Schulungen, Online-Service sowie die Software WinGDOES an. Kunden kommen aus Branchen wie Eisen und Stahl, Automobil, Luft- und Raumfahrt, Elektronik und Halbleiter, Oberflächentechnik und Erneuerbare Energien.
- Standort
- Hof
- Verfahren
- GDOES - Elementanalyse (Bulk-Analyse), GDOES - Tiefenprofilanalyse, Schichtdickenbestimmung (Schichten von <50 nm bis mehrere hundert μm), Auftragsanalyse: quantitative Tiefenprofilanalysen leitender und nichtleitender Schichten, Wasserstoffanalytik (Detektion von Wasserstoff, Deuterium, Tritium), Nachweisgrenzen 0,1-10 ppm; relative Tiefenauflösung 5-10 % der absolut erreichten Tiefe, Auftragsanalyse (Tiefenprofil- und Bulkanalyse), Schulungen/Workshops
- Werkstoffe
- Messing, Niedrig legierter Stahl, Stahl, Kupfer, CIGS, Keramik, Glas, Lackschichten
- Branchen
- Forschung & Entwicklung, Luft- und Raumfahrt, Automobil, Elektronik & Halbleiter, Oberflächentechnik & Beschichtung, Eisen & Stahl
- 01
Entwicklung der GD-OES-Instrumente
- 02
Produktion der GDA-Spektrometer in Hof
- 03
Softwareentwicklung (WinGDOES)
- 04
Vertrieb und Installation weltweit
- 05
Service, Schulungen und Auftragsanalyse
Verfahren und analysierbare Materialien
Glimmentladungsspektroskopie (GD-OES)
Optische Emissionsspektrometrie zur Elementzusammensetzungs-, Schichtdicken- und Tiefenprofilanalyse fester Materialien.
CCD-Optik
Hochauflösende Optik für nahezu unbegrenzte Elementkanäle und Dünnschichtanalyse.
PMT-Detektion
Photomultiplier-Kanäle mit schneller Datenerfassung für Schichten unter 100 nm.
Hochfrequenz-Glimmentladungsquelle
Ermöglicht die Analyse elektrisch nichtleitender Proben wie Glas, Keramik und Lackschichten.
Wasserstoffanalytik
Detektion von Wasserstoff, Deuterium und Tritium in Metallen.
Standorte
Hof
DEHauptsitz, Entwicklung, Produktion, Anwendungslabor und Service
- Werkstoffe
- Metalle, Halbleiter, Gläser, Keramiken, Polymere
- GDA Alpha
- GDA 150 HR
- GDA 550 HR
- GDA 650 HR
- GDA 750 HR
Branchen
Verfahren & technische Grenzen
| Verfahren | Toleranz | Max. Bauteil | Gewicht | Losgröße | Werkstoffe |
|---|---|---|---|---|---|
| GDOES - Elementanalyse (Bulk-Analyse)Prüfung | – | – | – | – | Metalle, Metalllegierungen, Halbleiter, Gläser, Keramiken, Polymere |
| GDOES - TiefenprofilanalysePrüfung | – | – | – | – | Metalle, Gläser, Keramiken, Polymere, Halbleiter |
| Schichtdickenbestimmung (Schichten von <50 nm bis mehrere hundert μm)Prüfung | – | – | – | – | Metallische Schichten, nichtmetallische Schichten, Lackschichten, Oxide, Hartstoffbeschichtungen |
| Auftragsanalyse: quantitative Tiefenprofilanalysen leitender und nichtleitender SchichtenPrüfung | – | – | – | – | Metalle, Messing, Stahl, Kupfer, verzinkte/vernickelte Proben, CIGS-Solarzellen |
| Wasserstoffanalytik (Detektion von Wasserstoff, Deuterium, Tritium)Prüfung | – | – | – | – | Metalle |
| Nachweisgrenzen 0,1-10 ppm; relative Tiefenauflösung 5-10 % der absolut erreichten TiefePrüfung | – | – | – | – | alle Elemente inkl. H, Li, Na, K, C, N, P, S, O |
5 Anlagen & Maschinen
| Maschine | Hersteller / Modell | Anzahl | Arbeitsraum | Baujahr | Standort |
|---|---|---|---|---|---|
| GDOES-Spektrometer (Tischgerät, CCD-Optik) | Spectruma GDA Alpha | – | – | – | Hersteller: Hof |
| GDOES-Spektrometer für Produktionskontrolle (leitfähige Proben) | Spectruma GDA 150 HR | – | – | – | Hersteller: Hof |
| GDOES-Hochleistungsspektrometer (PMT, >60 Elementkanäle, optional CCD-Optik) | Spectruma GDA 550 HR | – | Messungen bis zu einer Tiefe von 200 μm | – | Hersteller: Hof |
| GDOES-Spektrometer (CCD-Technologie, RF-Quelle für nichtleitende Proben) | Spectruma GDA 650 HR | – | – | – | Hersteller: Hof |
| GDOES-Hochleistungsspektrometer (bis 79 Elementkanäle PMT + CCD-Optik, RF-Quelle, Scrollpumpe) | Spectruma GDA 750 HR | – | Messungen bis zu einer Tiefe von 200 μm; Schichten unterhalb 100 nm erfassbar | – | Hersteller: Hof |
Zusatzleistungen
Referenzkunden
Historie
Seit über 40 Jahren Entwicklung und Produktion von High-Tech-Instrumenten für die Elementanalyse mittels GD-OES in Hof.