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Hersteller von Automated Test Equipment für Elektronik sowie Anbieter von Robotik und Test-Engineering-Dienstleistungen
Teradyne, Inc.
North Reading, MA (Zentrale) · München · Bracknell · Suresnes · Singapore · Shanghai · Tokyo/Yokohama · Seoul · Caesarea · AlajuelaNeu auf Amplifa
Über Teradyne
Teradyne entwickelt und fertigt automatisierte Testsysteme (ATE) für die Elektronikindustrie. Das Portfolio umfasst Halbleiter-Testsysteme für Logik-, RF-, Analog-, Power-, Mixed-Signal- und Memory-Technologien, System-Level-Testlösungen für AI- und Data-Center-Devices, In-Circuit- und Produktionstestsysteme für Leiterplattenbestückungen (PCBA), Speicher- und Storage-Testlösungen für HDD und SSD, drahtlose Testsysteme für zelluläre und Konnektivitätsstandards sowie Funktions- und Feldtestsysteme für Defense- und Aerospace-Anwendungen; ergänzt werden optische Testsysteme für Silicon Photonics. Die modularen Architekturen skalieren vom Laboreinsatz bis zur Hochvolumenfertigung. Im Bereich Robotik bietet Teradyne kollaborative Roboter (Cobots), autonome mobile Roboter (AMR) und hybride mobile Cobots zur Automatisierung repetitiver manueller Aufgaben. Ein globales Service- und Support-Netzwerk bietet Testprogramm-Entwicklung, Conversion Services, Engineering-Dienstleistungen, Training, Teileversorgung und Lifecycle-Support. Kunden sind Halbleiterhersteller, Elektronikfertiger sowie Verteidigungs- und Luftfahrtunternehmen weltweit. Der Konzern wurde 1960 gegründet, ist an der NYSE gelistet und hat seine Zentrale in North Reading, Massachusetts; im deutschsprachigen Raum wird das Geschäft von München aus betreut.
- Standort
- North Reading, MA
- Verfahren
- Semiconductor Test (Logik, RF, Analog, Power, Mixed-Signal, Memory), Wireless Test (Zelluläre und Konnektivitäts-Standards, High-Volume-Fertigung), Production Board Test (Inspektion und Device Programming von Leiterplattenbestückungen), Storage Test (HDD- und SSD-Prüfung), Defense & Aerospace System-Level Test (militärische und Avionik-Programme), Optical Test / Silicon Photonics Test, System Level Test (Validierung unter thermischer und elektrischer Last), Vectorless Test Technologies: Framescan (Analog Framescan, Powered Framescan, Framescan FX)
- Werkstoffe
- Automated Test Equipment, Halbleiter-Test (Semiconductor Test), System-Level-Test, Production Board Test, Memory-Test, Wireless-Test, Storage-Test, Defense & Aerospace Test
- Gegründet
- 1960
- Branchen
- Halbleiter, Elektronikfertigung, Defense & Aerospace, Automotive, Consumer Electronics, Healthcare
- 01
Testsystem-Entwicklung (ATE-Hardware)
- 02
Software-Entwicklung (TestStudio, TPS Converter Studio)
- 03
Testprogramm-Entwicklung und Conversion Services
- 04
Systemintegration und Deployment
- 05
Support, Training und Lifecycle-Management
Verfahren und Technologien
Automated Test Equipment
Testsysteme für Halbleiter, Leiterplatten, Storage, Wireless und Defense/Aerospace.
Halbleiter-Test (Semiconductor Test)
Prüfung von Logik-, RF-, Analog-, Power-, Mixed-Signal- und Memory-Technologien.
System-Level-Test
Validierung von Devices unter thermischer und elektrischer Last, u. a. für AI- und Data-Center-Anwendungen.
Production Board Test
Inspektion und Device-Programming von Leiterplattenbestückungen (PCBA).
Memory-Test
Testsysteme für Speicherbausteine (Magnum-Familie).
Wireless-Test
Hochvolumenprüfung zellulärer und Konnektivitätsstandards.
Storage-Test
Automatisierte Prüfung von HDD- und SSD-Geräten.
Defense & Aerospace Test
System-Level- und Funktionsprüfung für militärische und Avionik-Programme mit Lifecycle-Support.
Optical Test
Testsysteme für Silicon Photonics.
Robotic Task Automation
Cobots, AMRs und hybride mobile Cobots für Automatisierungsaufgaben.
Engineering Services
Turnkey- und kundenspezifische Testprogramm-Entwicklung, Conversion und Optimierung.
Standorte
North Reading, MA
USCorporate Headquarters
- UltraFLEXplus
- UltraFLEX
- J750Ex-HD
- Titan HP
- TestStation
München
DEDeutschland-Geschäftsführung
Bracknell
GBTeradyne Ltd. (Europa)
Suresnes
FRTeradyne SAS
Singapore
SGTeradyne (Asia) Pte. Ltd.
Shanghai
CNTeradyne (Shanghai) Co. LTD
Tokyo/Yokohama
JPTeradyne K.K.
Seoul
KRTeradyne Korea LTD
Caesarea
ILLitePoint Europe A.S.
Alajuela
CRTeradyne of Costa Rica S.A.
Branchen
Verfahren & technische Grenzen
| Verfahren | Toleranz | Max. Bauteil | Gewicht | Losgröße | Werkstoffe |
|---|---|---|---|---|---|
| Semiconductor Test (Logik, RF, Analog, Power, Mixed-Signal, Memory)Prüfung | – | – | – | – | – |
| Wireless Test (Zelluläre und Konnektivitäts-Standards, High-Volume-Fertigung)Prüfung | – | – | – | – | – |
| Production Board Test (Inspektion und Device Programming von Leiterplattenbestückungen)Prüfung | – | – | – | – | – |
| Storage Test (HDD- und SSD-Prüfung)Prüfung | – | – | – | – | – |
| Defense & Aerospace System-Level Test (militärische und Avionik-Programme)Prüfung | – | – | – | – | – |
| Optical Test / Silicon Photonics TestPrüfung | – | – | – | – | – |
| System Level Test (Validierung unter thermischer und elektrischer Last)Prüfung | – | – | – | – | – |
| Vectorless Test Technologies: Framescan (Analog Framescan, Powered Framescan, Framescan FX)Prüfung | – | – | – | – | Leiterplattenbestückungen (PCBA) |
| Boundary Scan TestPrüfung | – | – | – | – | – |
| Automated Thermal TestPrüfung | – | – | – | – | – |
| Robotic Task Automation (Cobots, AMRs, hybride mobile Cobots)Montage | – | – | – | – | – |
| Test Program Development & Conversion Services (platform-to-platform, design-to-test, WaveWizardEngineering | – | – | – | – | – |
26 Anlagen & Maschinen
| Maschine | Hersteller / Modell | Anzahl | Arbeitsraum | Baujahr | Standort |
|---|---|---|---|---|---|
| Halbleiter-Testsystem (SoC/Digital/Mixed-Signal) | Teradyne UltraFLEXplus | – | – | – | – |
| Halbleiter-Testsystem | Teradyne UltraFLEX | – | – | – | – |
| Halbleiter-Testsystem | Teradyne J750Ex-HD Platform | – | – | – | – |
| Halbleiter-Testsystem | Teradyne IP750Ex-HD | – | – | – | – |
| Analog/Power-Testsystem | Teradyne ETS-364 | – | – | – | – |
| Analog/Power-Testsystem | Teradyne ETS-800 | – | – | – | – |
| Analog/Power-Testsystem | Teradyne ETS-88 | – | – | – | – |
| Memory-Testsystem | Teradyne Magnum E2 | – | – | – | – |
| Memory-Testsystem | Teradyne Magnum EPIC | – | – | – | – |
| Memory-Testsystem | Teradyne Magnum V | – | – | – | – |
| Memory-Testsystem | Teradyne Magnum VUy | – | – | – | – |
| Memory-Testsystem | Teradyne Magnum 7 | – | – | – | – |
| Memory-Testsystem | Teradyne Magnum 7H | – | – | – | – |
| System-Level-Testsystem | Teradyne Titan HP | – | – | – | – |
| System-Level-Testsystem | Teradyne Titan | – | – | – | – |
| Storage-Testsystem | Teradyne Saturn | – | – | – | – |
| In-Circuit-Testsystem (Produktion Board Test) | Teradyne TestStation Product Family | – | – | – | – |
| Production Board Test System | Teradyne Omnyx | – | – | – | – |
| Funktions-Testsystem (Defense & Aerospace) | Teradyne Spectrum-9100 | – | – | – | – |
| Funktions-Testsystem (Defense & Aerospace, Board-Test) | Teradyne Spectrum BT | – | – | – | – |
| Field Test System | Teradyne Guardian | – | – | – | – |
| Automated Thermal Test System | Teradyne Tempo | – | – | – | – |
| Optical Test System | Teradyne Iris 100 | – | – | – | – |
| Optical Test System | Teradyne Photon 100 | – | – | – | – |
| Kollaborativer Roboter (Cobot) | Universal Robots (Teradyne) | – | – | – | – |
| Autonomer mobiler Roboter (AMR) | Teradyne (MiR) | – | – | – | – |
Zusatzleistungen
Referenzkunden
Historie
- 1960
Gründung durch Alex d'Arbeloff und Nick DeWolf in Boston
- 1961
Erstes Produkt (Diodentester) an Raytheon verkauft
- 1980er
Übernahme von Zehntel (In-Circuit-Board-Test)
- 1987
Einführung des ersten analogen VLSI-Testsystems A500
- 1990er
Übernahme Megatest; Marktführerschaft SoC-Test (Catalyst, Tiger)
- 2000/2001
Übernahme von GenRad, Integration in Assembly Test Division
- 2006
Konsolidierung des Bostoner Standorts nach North Reading, MA
- 2008
Übernahmen von Nextest und Eagle Test Systems; Markteintritt Disk-Drive-Test (Neptune)
- 2011
Übernahme von LitePoint (Wireless Test)
- 2014
Mark Jagiela wird CEO
- 2015
Übernahme von Universal Robots (Dänemark)