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Entwicklung von Prüfsoftware und -hardware zum Test elektronischer Baugruppen für die Elektronikfertigung
A.T.i. Software GmbH
Landsberger Str. 394, 81241 MünchenNeu auf Amplifa
Über A.T.i. Software
Die A.T.i. Software GmbH wurde 1987 als Ingenieurbüro in München gegründet und ist seit über 35 Jahren auf Prüfsoftware und -hardware für den elektrischen Test elektronischer Baugruppen spezialisiert. Das Unternehmen entwickelt individuelle Software- und Hardwarelösungen für In-Circuit-Test (ICT), Boundary-Scan-Test (BST), Active-Scan-Test (AST), Funktionaltest (FKT) sowie In-System-Programmierung (ISP). Die Leistungspalette umfasst Beratung, Erstellung von Testkonzepten, Konzipierung von Prüfvorrichtungen (Adaptern), Lieferung, Inbetriebnahme und Support beim Kunden – inklusive Schulungen, Debug-Unterstützung und Traceability-Lösungen mit Datenbankanbindung. Kernkompetenz ist die parallele In-System-Programmierung auf dem ICT-Testadapter, bei der je nach Schnittstelle bis zu 128 identische Devices gleichzeitig programmiert werden können; realisiert wurden bereits über 100 Models, u. a. ATMEGAx, PICx, MSPxx und STMx. Die schlüsselfertigen ATE-Lösungen basieren auf Teradyne-Testsystemen, hausinterne Systeme dienen der Programmierung und dem Debugging der Testprogramme. Seit 2002 ist die A.T.i. Selected Member des TSN Netzwerkes, seit 2016 ist sie nach ISO 9001 zertifiziert. Vom Standort München aus betreut das Unternehmen die Elektronikfertigung in Deutschland.
- Standort
- München
- Verfahren
- In-Circuit-Test (ICT), Boundary-Scan-Test (BST) nach IEEE 1149.1, Active-Scan-Test (AST), Funktionaltest (FKT), In-System Programmierung (ISP), parallel im Nutzen bis 64 Bit Breite, Beratung / Erstellung Testkonzept / Konzipierung Prüfvorrichtungen (Adapter) / Inbetriebnahme, Schlüsselfertige ATE-Lösungen (Testsysteme) für Elektronikfertigung, Schulungen / Trainings / Support (telefonisch und vor Ort) / Debugging-Unterstützung
- Werkstoffe
- Elektronik-Baugruppen (Leiterplatten/PCB), Mikrocontroller ATMEGAx, Mikrocontroller PICx, Mikrocontroller MSPxx, Mikrocontroller STMx, MC9S08AW32, MC9S12XEG128, R5F10AGF
- Zertifikate
- ISO 9001
- Gegründet
- 1987
- Branchen
- Elektronikfertigung, Elektronikindustrie
- 01
Beratung
- 02
Erstellung Testkonzept
- 03
Konzipierung Prüfvorrichtungen (Adapter)
- 04
Programmierung und Debugging der Testsoftware
- 05
Lieferung
- 06
Inbetriebnahme
- 07
Support und Schulung
Testverfahren und Plattformen
In-Circuit-Test (ICT)
Prüfverfahren für analoge Bauteile und komplexe digitale Komponenten mit kurzen Testzeiten und hoher Testabdeckung.
Boundary-Scan-Test (BST) nach IEEE 1149.1
Test elektronischer Baugruppen über JTAG-Port auch bei reduziertem Zugriff auf die Leiterplatte.
Active-Scan-Test (AST)
Bauteiletest für Mikrocontroller ohne interne BST-Logik.
In-System-Programmierung (ISP)
Parallele Programmierung von Mikrocontrollern, EEPROM und Flash im Nutzen bis 64 Bit Breite direkt auf dem ICT-Testadapter.
Funktionaltest (FKT)
Prüfung von Baugruppen auf Einhaltung der von der Entwicklung spezifizierten Parameter.
Standort
München
DEHauptsitz, Entwicklung und Testhaus
- Werkstoffe
- Elektronik-Baugruppen (PCB), Mikrocontroller u. a. ATMEGAx, PICx, MSPxx, STMx
- Teradyne Inline Testsystem TSI5/x
- Teradyne Inline Testsystem TSH
- Teststation LH12x
- Teststation SE (Spectrum 88xx)
- Teradyne Testsystem GR228x
- Teradyne Testsystem TS-LH1xx
- Teradyne Testsystem TS1xx
- Teradyne Testsystem TS-TSR
- Teradyne Testsystem TS-DUO
- Hausinterne eigene Testsysteme
Branchen
Verfahren & technische Grenzen
| Verfahren | Toleranz | Max. Bauteil | Gewicht | Losgröße | Werkstoffe |
|---|---|---|---|---|---|
| In-Circuit-Test (ICT)Prüfung | – | – | – | – | Elektronik-Baugruppen (PCB), analoge Bauteile (Widerstand, Kapazität, Induktivität), digitale Komponenten |
| Boundary-Scan-Test (BST) nach IEEE 1149.1Prüfung | – | – | – | – | Elektronik-Baugruppen, digitale Bausteine mit JTAG Port |
| Active-Scan-Test (AST)Prüfung | – | – | – | – | Mikrocontroller ohne interne BST-Logik |
| Funktionaltest (FKT)Prüfung | – | – | – | – | Elektronik-Baugruppen |
| In-System Programmierung (ISP), parallel im Nutzen bis 64 Bit BreitePrüfung | – | – | – | – | Mikrocontroller (ATMEGAx, PICx, MSPxx, STMx u.a.), EEPROM, Flash, uP/uC Bausteine |
| Beratung / Erstellung Testkonzept / Konzipierung Prüfvorrichtungen (Adapter) / InbetriebnahmeEngineering | – | – | – | – | – |
| Schlüsselfertige ATE-Lösungen (Testsysteme) für ElektronikfertigungPrüfung | – | – | – | – | Elektronik-Baugruppen |
| Schulungen / Trainings / Support (telefonisch und vor Ort) / Debugging-UnterstützungEngineering | – | – | – | – | – |
10 Anlagen & Maschinen
| Maschine | Hersteller / Modell | Anzahl | Arbeitsraum | Baujahr | Standort |
|---|---|---|---|---|---|
| Teradyne Inline Testsystem TSI5/x | Teradyne TSI5/x | – | – | – | München |
| Teradyne Inline Testsystem TSH | Teradyne TSH | – | – | – | München |
| Teststation LH12x | Teradyne LH12x | – | – | – | München |
| Teststation SE (Spectrum 88xx) | Teradyne SE / Spectrum 88xx | – | – | – | München |
| Teradyne Testsystem GR228x | Teradyne GR228x | – | – | – | München |
| Teradyne Testsystem TS-LH1xx | Teradyne TS-LH1xx | – | – | – | München |
| Teradyne Testsystem TS1xx | Teradyne TS1xx | – | – | – | München |
| Teradyne Testsystem TS-TSR | Teradyne TS-TSR | – | – | – | München |
| Teradyne Testsystem TS-DUO | Teradyne TS-DUO | – | – | – | München |
| Hausinterne eigene Testsysteme (Programmierung/Debugging) | – | – | – | – | München |
Zusatzleistungen
Qualität
Die A.T.i. Software GmbH ist seit 2016 nach ISO 9001 zertifiziert; das letzte Audit fand 2025 statt. Kunden bewerten das Unternehmen im Bereich Qualität, Termintreue und Kundenservice mit der Note 1,18 (sehr gut).
| Nachweis | München |
|---|---|
| ISO 9001 |
Firmengeschichte
- 1987
Gründung als Ingenieurbüro in München
- 2002
Selected Member des TSN Netzwerkes
- 2016
Erstzertifizierung nach ISO 9001
- 2025
Letztes ISO 9001 Audit