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Entwicklung piezoresistiver Self-Sensing-Cantilevers und Ausleseelektronik für laserfreie AFM-Messungen
c-sense GmbH
Langenlois · Wiener Neustadt · WienNeu auf Amplifa
Über c-sense
Die c-sense GmbH ist ein österreichisches Nanotechnologieunternehmen mit Sitz in Langenlois (Niederösterreich), das aktive, selbstmessende AFM-Cantilevers auf Basis piezoresistiver Sensorik entwickelt und vermarktet. Durch die direkte Integration der Messfunktion in den Cantilever entfällt die optische Laser-Auslesung, wodurch Messungen in Umgebungen möglich werden, in denen konventionelle optische Strahlabweichung an ihre Grenzen stößt – etwa in kryogenen Systemen, im Vakuum, in SEM-Systemen, in trüben oder leitfähigen Flüssigkeiten und in kompakten kundenspezifischen Forschungsaufbauten. Das Portfolio umfasst Silizium-Self-Sensing-Cantilevers mit Si-Spitze oder tipless, patentierte Trilayer-Cantilevers (Polymer–Halbleiter–Keramik-Dünnschichtarchitektur), leitfähige Trilayer-Cantilevers für KPFM, EFM und cAFM, Quantum Cryogenic Trilayer (QCT) Cantilevers sowie die Ausleseelektronik NanoOne und NanoLab Pro. Ergänzend bietet das Unternehmen Custom Cantilever Development, OEM-Integration, Applikations-Engineering, AFM-Integration sowie Kundensupport und Training. Die Technologie baut auf zwei Jahrzehnten Entwicklung als Nachfolger der SCL Sensor.Tech-Aktivitäten auf und dient Branchen wie Biotechnologie, Halbleitermetrologie, Nanomechanik, Quantentechnologien und Magnetmessungen.
- Standort
- Langenlois
- Verfahren
- Entwicklung und Vertrieb von piezoresistiven, selbstmessenden AFM-Cantilevers (aktive, self-sensing, Silizium Self-Sensing Cantilevers mit integrierter elektrischer Auslesung (mit Si-Spitze oder, Advanced Trilayer Self-Sensing Cantilevers (patentierte Polymer-Dünnschicht-Trilayer-Architektur,, Conductive Trilayer Cantilevers für elektrische und elektrostatische AFM-Anwendungen (KPFM, EFM,, Quantum Cryogenic Trilayer (QCT) Cantilevers für Tieftemperatur- und Kryogenforschung, NanoOne Starter Kit – Auslese-Elektronik, Kabel und self-sensing Cantilevers als Einstiegssystem, NanoLab Pro Elektronik (Readout-Elektronik), Custom Cantilever Development / Made-to-spec Custom Solutions (kundenspezifische Cantilevers,
- Werkstoffe
- Silizium, Polymer (Trilayer-Architektur), Halbleiter-Dünnschicht (Trilayer), Keramik (Trilayer, gemäß Publikation 'polymer–semiconductor–ceramic cantilever'), Polymer–Halbleiter–Keramik-Trilayer, Keramik (Trilayer)
- Zertifikate
- ISO 9001
- Branchen
- Biotechnologie, Halbleitermetrologie, Nanomechanik, Quantentechnologien, Magnetmessungen, Advanced OEM Instrumentierung
- 01
Produktdefinition
- 02
Cantilever-Design und Sensorentwicklung
- 03
Custom Probe / Cantilever Development (mit spezialisierten Fertigungspartnern)
- 04
Ausleseelektronik (NanoOne, NanoLab Pro)
- 05
System- und AFM-Integration
- 06
Applikations-Engineering
- 07
Kundensupport und Training
Werkstoffe & Verfahren
Silizium
Piezoresistive Silizium-Cantilevers mit integrierter elektrischer Auslesung, mit Si-Spitze oder tipless in verschiedenen Resonanzfrequenzen und Steifigkeiten.
Polymer–Halbleiter–Keramik-Trilayer
Patentierte Trilayer-Architektur für hohe Kraftempfindlichkeit und schnelle Abbildung, laut Publikation in Nature Electronics.
Halbleiter-Dünnschicht (Trilayer)
Dünnschichtkomponente der Trilayer-Cantilevers für selbstmessende piezoresistive Auslesung.
Keramik (Trilayer)
Harte Schicht- und Spitzenkomponente der Trilayer-Cantilevers gemäß Publikation 'polymer–semiconductor–ceramic cantilever'.
Standorte
Langenlois
ATHauptsitz
- Werkstoffe
- Silizium, Trilayer (Polymer, Halbleiter-Dünnschicht, Keramik)
- Entwicklung und Design von Self-Sensing-Cantilevers
- Ausleseelektronik
Wiener Neustadt
ATLabor (TFZ Technologie und Forschungszentrum, Viktor Kaplan-Straße 2, Bauteil E – OG 2)
- AFM-Messtechnik
- Anwendungslabor
Wien
ATLabor (Tech Park Vienna, Gutheil-Schoder-Gasse 17)
Produkte & Bauteile
Einblicke in die Fertigung
Branchen
Verfahren & technische Grenzen
| Verfahren | Toleranz | Max. Bauteil | Gewicht | Losgröße | Werkstoffe |
|---|---|---|---|---|---|
| Entwicklung und Vertrieb von piezoresistiven, selbstmessenden AFM-Cantilevers (aktive, self-sensingEngineering | – | – | – | – | Silizium, Polymer-Dünnschicht-Trilayer |
| Silizium Self-Sensing Cantilevers mit integrierter elektrischer Auslesung (mit Si-Spitze oderEngineering | – | – | – | – | Silizium |
| Advanced Trilayer Self-Sensing Cantilevers (patentierte Polymer-Dünnschicht-Trilayer-Architektur,Engineering | – | – | – | – | Polymer, Dünnschicht-Halbleiter, Keramik |
| Conductive Trilayer Cantilevers für elektrische und elektrostatische AFM-Anwendungen (KPFM, EFM,Engineering | – | – | – | – | Polymer, Dünnschicht-Halbleiter, Keramik |
| Quantum Cryogenic Trilayer (QCT) Cantilevers für Tieftemperatur- und KryogenforschungEngineering | – | – | – | – | Polymer, Dünnschicht-Halbleiter, Keramik |
| NanoOne Starter Kit – Auslese-Elektronik, Kabel und self-sensing Cantilevers als EinstiegssystemEngineering | – | – | – | – | – |
| NanoLab Pro Elektronik (Readout-Elektronik)Engineering | – | – | – | – | – |
| Custom Cantilever Development / Made-to-spec Custom Solutions (kundenspezifische Cantilevers,Engineering | – | – | – | – | Silizium, Polymer, Dünnschicht-Halbleiter, Keramik |
| AFM-Messtechnik: Topographie und Struktur (Oberflächenhöhe, 3D-Profil, Phase Imaging)Prüfung | – | – | – | – | – |
| AFM-Messtechnik: mechanische Eigenschaften (Steifigkeit, Adhäsion, Reibung, Viskoelastizität)Prüfung | – | – | – | – | – |
| AFM-Messtechnik: KPFM und EFM (Oberflächenpotenzial, Austrittsarbeit, Dotierung)Prüfung | – | – | – | – | – |
| AFM-Messtechnik: leitfähige Messungen (cAFM, Nanoprobing, IV-Spektroskopie, SSRM)Prüfung | – | – | – | – | – |
| AFM-Messtechnik: Tieftemperatur- und Quantenmessungen (Quantum Twisting Microscopy)Prüfung | – | – | – | – | – |
| AFM-Messtechnik: MFM (Magnetkraftmikroskopie)Prüfung | – | – | – | – | – |
| AFM-Messtechnik: In-liquid und Biosensing (opake und transparente Flüssigkeitsumgebungen)Prüfung | – | – | – | – | – |
| Nanomechanisches Mikroskop für korrelierte Analyse / CAS-C NanoInspect für korreliertePrüfung | – | – | – | – | – |
| Systemintegration, OEM-Entwicklung, Application Engineering und Elektronik für leistungsstarkeEngineering | – | – | – | – | – |
Zusatzleistungen
Referenzkunden
Qualität & Normen
Qualität sichert c-sense durch Applikations-Engineering, kundenspezifische Sensorentwicklung und direkten Support durch Anwendungswissenschaftler; die Technologie ist durch peer-reviewed Publikationen (u. a. Nature Electronics) belegt.
| Nachweis | Langenlois |
|---|---|
| ISO 9001 |
Historie
Fortführung der SCL Sensor.Tech-Aktivitäten; die Technologie basiert auf zwei Jahrzehnten Selbstsensing-Cantilever-Entwicklung