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ZEISS SMT – Fertigung

Lithographie-Optiken, Photomasken-Lösungen und Wafer-Messtechnik für die weltweite Halbleiterfertigung.

ZEISS SMT Logo

Carl Zeiss SMT GmbH

Oberkochen · Wetzlar · Jena · Rossdorf · Aachen · Coswig · Zürich · Dublin · Bar LevNeu auf Amplifa

1994Gründung des SMT-Geschäftsbereichs (ZEISS gegründet 1846)
9.349Mitarbeitende (Vollzeitäquivalente)
5,055 Mrd. €Umsatz GJ 2024/25
9 Standortein vier Ländern
1,7 Mrd. €Entwicklungsaufwand Lithographie-Optik GJ 2024/25

Über ZEISS Semiconductor Manufacturing Technology

Die Carl Zeiss SMT GmbH (Semiconductor Manufacturing Technology) ist das Halbleitersegment der ZEISS-Gruppe und entwickelt sowie fertigt Präzisionsoptiken und Systeme für die Chipproduktion. Das Portfolio umfasst Lithographie-Optiken für DUV-, EUV- (13,5 nm) und High-NA-EUV-Lithographie, OEM-Optikmodule für Lithographie-Laser und Wafer-Inspektion, Photomasken-Lösungen (Mask Repair, Qualifikation mit AIMS®, Metrologie mit PROVE, Tuning) sowie Wafer-Fab-Lösungen wie 3D-Röntgen-Laminographie (NLX, 300 mm Wafer), Wafer-Shape-Control (DUNE), Multi-Beam-Rasterelektronenmikroskopie (MultiSEM) und FIB-SEM-3D-Metrologie mit Auflösungen bis 0,9 nm. Gefertigt und bearbeitet werden dabei optische Komponenten u. a. aus Silizium, Glas, Quarz und Calciumfluorid. Rund 80 Prozent der weltweit produzierten Mikrochips entstehen mit Lithographiesystemen des strategischen Partners ASML und ZEISS-SMT-Optiken. Der Hauptsitz befindet sich in Oberkochen (Baden-Württemberg); neun Standorte in Deutschland, der Schweiz, Irland und Israel sowie ein Netzwerk von über 1.200 Partnern und lokale Servicezentren in Asien, den USA und Europa komplettieren das Unternehmen. Kunden stammen aus der Halbleiter-, Elektronik-, Automobil- und Energiebranche sowie aus der Forschung (Synchrotron-Optiken).

Standort
Oberkochen
Verfahren
EUV-Lithographie-Optik (13,5 nm), DUV-Lithographie-Optik (365, 248, 193 nm), High-NA-EUV-Lithographie, Synchrotron-Optik und Röntgengitter, Laserkomponenten und -module (Calciumfluorid-Komponenten, Metrologie-Module für Excimer-Laser), Optik für Wafer-Inspektion, Mask Repair (Reparatur von Hard-/Soft-Defekten auf Photomasken, FIB- und Elektronenstrahl-Verfahren), Mask Qualification (AIMS®)
Werkstoffe
Silizium (Wafer), Glas (Photomasken), Quarz (Photomasken), Calciumfluorid (Optikkomponenten), Acetat (Fassungen), Titan (Fassungen), Quarz, Glas
Gegründet
1994
Mitarbeiter
9349
Branchen
Halbleiterindustrie, Chipfertiger, Elektronik, Kommunikation, Unterhaltungselektronik, Automotive
  1. 01

    Forschung und Entwicklung

  2. 02

    Konstruktion und Engineering

  3. 03

    Präzisionsfertigung der Optikkomponenten

  4. 04

    Systemintegration und Montage

  5. 05

    Metrologie und Qualifizierung

  6. 06

    Weltweiter Support und Service

Werkstoffe und Verfahren

Si

Silizium (Wafer)

Grundmaterial der Wafer, auf die Nanometer-feinen Strukturen projiziert werden.

SiO2

Quarz

Transparentes Maskensubstrat für Photomasken.

Glas

Glas

Substratwerkstoff für Photomasken in der Chipfertigung.

CaF2

Calciumfluorid

Optikkomponenten für DUV-Lithographie-Laser bei 193 und 248 nm.

Standorte

Standort Oberkochen

Oberkochen

DE

Hauptstandort/HQ

Werkstoffe
Silizium, Glas, Quarz, Calciumfluorid
  • EUV-/DUV-Lithographie-Optik-Fertigung
  • MultiSEM
  • 3D Metrology and Inspection Workstation

Wetzlar

DE

Standort

Jena

DE

Standort

Rossdorf

DE

Standort (Mask Solutions, ex NaWoTec, 2005 übernommen)

Werkstoffe
Glas, Quarz
  • Mask-Repair-Systeme
  • AIMS® Mask-Qualifikationssystem
  • PROVE Mask-Metrologiesystem

Aachen

DE

Standort (Philips Engineering Solutions, 2024 übernommen)

Coswig

DE

Standort

Zürich

CH

Standort

Dublin

IE

Standort

Bar Lev

IL

Standort (Pixer Technology, 2008 übernommen)

  • Mask-Tuning-Systeme

Produkte und Systeme

High-NA-EUV-Projektionsoptik und Beleuchtungssystem
High-NA-EUV-Projektionsoptik und BeleuchtungssystemPräzisionsoptik · Halbleiterindustrie
Wafer-Stepper-Optik S-Planar 10/0.28
Wafer-Stepper-Optik S-Planar 10/0.28Lithographie-Optik · Halbleiterindustrie
Präzisionskomponenten der Lithographieoptik-Fertigung
Präzisionskomponenten der Lithographieoptik-FertigungOptikfertigung · Halbleiterindustrie

Einblicke in die Fertigung

Fertigung bei ZEISS SMT
Fertigung bei ZEISS SMT
Erster Wafer-Stepper mit ZEISS-Optik, 1977
Erster Wafer-Stepper mit ZEISS-Optik, 1977
Black Light Control für die High-NA-Lithographie
Black Light Control für die High-NA-Lithographie

Branchen

HalbleiterindustrieChipfertigerElektronikKommunikationUnterhaltungselektronikAutomotiveEnergiesektorForschung (Synchrotron)

Verfahren & technische Grenzen

VerfahrenToleranzMax. BauteilGewichtLosgrößeWerkstoffe
EUV-Lithographie-Optik (13,5 nm)Engineering––––Silizium-Wafer
DUV-Lithographie-Optik (365, 248, 193 nm)Engineering––––Silizium-Wafer
High-NA-EUV-LithographieEngineering–––––
Synchrotron-Optik und RöntgengitterEngineering–––––
Laserkomponenten und -module (Calciumfluorid-Komponenten, Metrologie-Module für Excimer-Laser)Engineering––––Calciumfluorid
Optik für Wafer-InspektionPrüfung––––Silizium
Mask Repair (Reparatur von Hard-/Soft-Defekten auf Photomasken, FIB- und Elektronenstrahl-Verfahren)Prüfung––––Glas, Quarz
Mask Qualification (AIMS®)Prüfung–––––
Mask Metrology (PROVE – PositionsGenauigkeit von Maskenstrukturen)Prüfung–––––
Mask TuningPrüfung–––––
Inline 3D X-ray-Laminographie für Advanced Packaging (300 mm Wafer)Prüfung––––Silizium
Aktive Wafer-Shape-Kontrolle (globale Wafer-Warpage-Messung und -Korrektur)Prüfung––––Silizium
Multi-Beam-SEM-Analyse (2D-Strukturanalyse, Fehlerdiagnose, 91 Strahlen)Prüfung––––Silizium
FIB-Tomographie (3D-Volumenanalyse von Mikrochips, Auflösung bis 0,9 nm)Prüfung0,9 nm Auflösung–––Silizium

7 Anlagen & Maschinen

MaschineHersteller / ModellAnzahlArbeitsraumBaujahrStandort
3D-X-ray-Laminographie-SystemZEISS NLX–300 mm Wafer––
Wafer-Shape-Control-System mit MetrologieZEISS DUNE 100––––
Multi-Beam-Rasterelektronenmikroskop (91 Parallel-Strahlen, 1,5 TB/h Datenrate)ZEISS MultiSEM––––
FIB-SEM 3D-Metrology- und Inspektions-Workstation (Auflösung 0,9 nm bei 15 keV)ZEISS 3D Metrology and Inspection Workstation––––
Mask-QualifikationssystemZEISS AIMS®––––
Mask-MetrologiesystemZEISS PROVE––––
Mask-Repair-SystemeZEISS––––

Zusatzleistungen

Lithographie-Optiken (DUV, EUV, High-NA-EUV)Photomask-Lösungen (Mask Repair, Qualifikation/AIMS, Metrologie/PROVE, Tuning, Digital Solutions)Wafer Fab Solutions (Inspektion, Metrologie, Defect Review, Wafer-Shape-Control: NLX, DUNE)Synchrotron-Optiken und RöntgengitterOEM-Optikmodule für Lithographie-Laser und Wafer-InspektionSupport und Service über lokale Vertriebs- und Servicezentren

Referenzkunden

ASMLSamsungTSMCKLATRUMPF (Partner)Fraunhofer IOF (Partner)

Historie

  1. 1846

    Gründung von ZEISS

  2. 1968

    Erste ZEISS-Optik für einen Schaltungsplotter (Telefunken) mit 15 µm Strukturen

  3. 1977

    Erster Wafer-Stepper weltweit mit ZEISS-Optik (S-Planar 10/0.28, David Mann/GCA)

  4. 1994

    Gründung des SMT-Geschäftsbereichs

  5. 1997

    Strategische Partnerschaft mit ASML

  6. 1998

    Erste 193-nm-Optiken

  7. 2001

    Standort Oberkochen eröffnet

  8. 2002

    ASML und ZEISS SMT werden Weltmarktführer

  9. 2005

    NaWoTec GmbH Rossdorf wird Teil von ZEISS SMT (Mask Repair)

  10. 2008

    Übernahme von Pixer Technology (Israel)

  11. 2016

    ASML wird Minderheitsgesellschafter der ZEISS SMT

  12. 2017

    Gründung ZEISS Process Control Solutions (heute Semiconductor Fab Solutions)

  13. 2018

    50 Jahre ZEISS SMT

  14. 2019

    Erste mit EUV gefertigte Chips auf dem Massenmarkt (Smartphones)

  15. 2020

    Deutscher Zukunftspreis für EUV-Lithographie (ZEISS, TRUMPF, Fraunhofer IOF)

  16. 2022

    20 Jahre strategische Partnerschaft mit ASML

  17. 2023

    Erste High-NA-EUV-Projektionsoptik und Beleuchtungssystem ausgeliefert

  18. 2024

    Übernahme von Philips Engineering Solutions (Aachen) und der Lithographie-Division von Beyond Gravity; ASML Supplier Award, KLA Excellence in Technology Award, Werner-von-Siemens-Ring

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