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Entwicklung und Produktion von elektronischen Testsystemen für In-Circuit-, Funktions- und Halbleitertest
Dr. Eschke Elektronik GmbH
Berlin · Waldshut-TiengenNeu auf Amplifa
Über Dr. Eschke Elektronik
Die Dr. Eschke Elektronik GmbH entwickelt und produziert elektronische Testsysteme für die Fertigung, Entwicklung und Service von Elektronikbaugruppen. Das Portfolio umfasst In-Circuit-Tester, Funktionstester, Komponententester, Inline-Tester, Halbleitertester sowie Boundary-Scan- und AOI-Testlösungen; verschiedene Verfahren lassen sich in einem Kompakttester kombinieren. Die frei skalierbare CT3xx-Testerfamilie mit einheitlichem Bussystem, Betriebssoftware CTestAdvisor, CAD- und Testdatenimport, Testabdeckungsanalyse sowie serverbasierter Reparaturdatenverwaltung ermöglicht kundenspezifische Komplettlösungen der Prüftechnik. Mehr als 750 Testsysteme sind international im Einsatz, unter anderem in der Elektronikfertigung, der Automobilindustrie, der Eisenbahn-Sicherungstechnik, der Halbleiter- und Telekommunikationstechnik sowie der Optoelektronik. Das Unternehmen wurde 1990 gegründet und sitzt mit Headquarter in Berlin; eine Zweigstelle für Vertrieb, Support und Service besteht in Waldshut-Tiengen.
- Standort
- Berlin
- Verfahren
- In-Circuit-Test, Funktionstest, Komponententest, Halbleitertest, Boundary Scan Test, AOI-Test, Inline Test, High Speed Mixed Signal-Test (digital bis 6 GS/s, analog bis 5 GS/s)
- Werkstoffe
- Flachbaugruppen (PCB), Halbleiter-Bauelemente, In-Circuit-Test, Funktionstest, Halbleiter-/Komponententest, Boundary Scan Test, AOI-Test, High Speed Mixed Signal-Test
- Zertifikate
- Kundenkunft QMS-Anbindung
- Gegründet
- 1990
- Branchen
- Elektronikfertigung, Automotive, Eisenbahn-Sicherungstechnik, Halbleiter, Telekommunikation/Übertragungstechnik, Optoelektronik
- 01
Entwicklung von Hardware und Software
- 02
Produktion der Testsysteme
- 03
Vertrieb
- 04
Support und Service
Testverfahren & Messtechnik
In-Circuit-Test
Prüfung von Flachbaugruppen auf Bestückungs- und Verbindungsmängel.
Funktionstest
Volldynamischer Test der Funktion elektronischer Baugruppen.
Halbleiter-/Komponententest
Test von Halbleiter-Bauelementen und elektronischen Komponenten.
Boundary Scan Test
Grenzleit-Test für digitale Netzwerke, inklusive Göpel-BST-Integration.
AOI-Test
Automatisch-optische Inspektion als Testfunktion im Kompakttester.
High Speed Mixed Signal-Test
Sampling-Raten bis zu 6 GS/s digital und 5 GS/s analog.
Standorte
Berlin
DEHeadquarter: Entwicklung, Produktion, Vertrieb und Support
- Werkstoffe
- High Speed Mixed Signal, digital/analog
- CT350 Comet T EH
- CT350 Comet C
- CT300 Galaxy/Meteor/Satellite
- CT300 Basic System
- CT250/CT250M
- DAT500
- DAT100-CD
- DM1G
- AM30-4B
- CDM24
- Repair Station
Testsysteme
Einblicke in die Fertigung
Branchen
Verfahren & technische Grenzen
| Verfahren | Toleranz | Max. Bauteil | Gewicht | Losgröße | Werkstoffe |
|---|---|---|---|---|---|
| In-Circuit-TestPrüfung | – | – | – | – | Elektronik/Flachbaugruppen |
| FunktionstestPrüfung | – | – | – | – | Elektronik/Flachbaugruppen |
| KomponententestPrüfung | – | – | – | – | Elektronische Bauelemente |
| HalbleitertestPrüfung | – | – | – | – | Halbleiter |
| Boundary Scan TestPrüfung | – | – | – | – | Elektronik/Flachbaugruppen |
| AOI-TestPrüfung | – | – | – | – | Elektronik/Flachbaugruppen |
| Inline TestPrüfung | – | – | – | – | Elektronik/Flachbaugruppen |
| High Speed Mixed Signal-Test (digital bis 6 GS/s, analog bis 5 GS/s)Prüfung | – | – | – | – | Elektronik |
20 Anlagen & Maschinen
| Maschine | Hersteller / Modell | Anzahl | Arbeitsraum | Baujahr | Standort |
|---|---|---|---|---|---|
| Kombinationstestsystem | Dr. Eschke Elektronik CT350 Comet T EH (Paralleltest) | – | – | 2020 | Berlin |
| Kompakt-Tester | Dr. Eschke Elektronik CT350 Comet C | – | – | 2013 | Berlin |
| Kombinationstester | Dr. Eschke Elektronik CT350 Comet T | – | – | 2009 | Berlin |
| Semiconductor- und Kombinationstester | Dr. Eschke Elektronik CT350 Comet R / CT3xx Power Rack | – | – | 2007 | Berlin |
| Semiconductor- und Komponententester | Dr. Eschke Elektronik CT350 Comet S | – | – | 2006 | Berlin |
| High-Speed Kombinationstester | Dr. Eschke Elektronik CT300 Galaxy / CT300 Meteor / CT300 Satellite | – | – | 2005 | Berlin |
| Board-, Semiconductor- und Final-Tester | Dr. Eschke Elektronik CT300 Basic System | – | – | 2004 | Berlin |
| High Speed Kombinationstester | Dr. Eschke Elektronik CT250 / CT250M | – | – | 2001 | Berlin |
| Funktionstester | Dr. Eschke Elektronik DAT500 (500 MS/s analog, 100 MS/s digital, 1024 Kanäle) | – | – | 1998 | Berlin |
| Chip-Card-Tester | Dr. Eschke Elektronik DAT100-CD | – | – | 2001 | Berlin |
| Digital-Analog-Tester | Dr. Eschke Elektronik DAT100M (100 MS/s analog, 1024 digitale Kanäle) | – | – | 1996 | Berlin |
| Digital-Analog-Tester | Dr. Eschke Elektronik DAT100 (100 MS/s analog, 256 digitale Kanäle) | – | – | 1995 | Berlin |
| Digital-Tester | Dr. Eschke Elektronik DT30 (50 MS/s, 88 Kanäle) | – | – | 1993 | Berlin |
| Digital-Tester | Dr. Eschke Elektronik DKTS-2 (30 MS/s, 88 Kanäle) | – | – | 1990 | Berlin |
| Repair Station | Dr. Eschke Elektronik server-basierte Logging- und Reparaturdatenverwaltung | – | – | – | – |
| Modul: High Speed Digitalmodul | Dr. Eschke Elektronik DM1G (16/32 MSteps, bis 1,5 GS/s / 6 GS/s Burst Mode) | – | – | 2020 | – |
| Modul: Messmodul Kapazität/Induktivität | Dr. Eschke Elektronik XIMP20 | – | – | 2020 | – |
| Modul: Analogmodul | Dr. Eschke Elektronik AM30-4B (30 V, 300 mA, 24 Bit) | – | – | 2017 | – |
| Modul: High Speed Color Analyzer | Dr. Eschke Elektronik CDM24 | – | – | 2017 | – |
| High Voltage Relaismatrix | Dr. Eschke Elektronik SC370 (370 Vss) | – | – | 2011 | Berlin |
Zusatzleistungen
Referenzkunden
Qualität
Testsysteme mit Testabdeckungsanalyse, Logging und Statistik sowie einfacher Anbindung an Qualitätsmanagementsysteme; die Reparaturdatenverwaltung Repair Station erfolgt serverbasiert und papierlos.
| Nachweis | Berlin |
|---|---|
| Kundenkunft QMS-Anbindung |
Firmengeschichte
- 1990
Gründung des Unternehmens; Digital-Tester DKTS-2, Entwicklungen für Fiber Optic TRX und FDDI
- 1993
Digital-Tester DT30
- 1995
Digital-Analog-Tester DAT100, Gigabit-Transceiver
- 1996
Digital-Analog-Tester DAT100M
- 1997
DAT-IrDA, Prüftechniken ATM, STM-1, STM-4
- 1998
Funktionstester DAT500
- 1999
ATM-Tester DAT-ATM
- 2001
CT250/CT250M, Chip-Card-Tester DAT100-CD
- 2003
MDA-Techniken, Test von Automotive-Modulen
- 2004
CT300 Basic System, T-B1 Testsystem für Eisenbahn-Sicherungstechnik
- 2005
CT300 Serie (Galaxy, Meteor, Satellite), T-B2
- 2006
CT350 Comet S
- 2007
CT350 Comet R, CT3xx Power Rack
- 2009
CT350 Comet T, TestOS4
- 2010
CT300 Satellite opt, UIF
- 2011
High Voltage Relaismatrix SC370
- 2013
CT350 Comet C
- 2015
UEM3, XPR5, DM300-32HV, Göpel-BST-Integration
- 2017
SA5-E, AM30-4B, CDM24
- 2020
CT350 Comet T EH mit Paralleltest, Module DM1G, XIMP20, PSM2M, TCP/IP-Interface