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ERS electronic – Fertigung

Thermische Chuck-Systeme für Wafer-Tests und Debonding-Lösungen für Advanced Packaging seit 1970

ERS electronic Logo

ERS electronic GmbH

Germering · Barbing · Dallas, TX (USA) · Zhubei (Taiwan) · Shanghai (China)Neu auf Amplifa

1970Gegründet (erster Thermal Chuck)
10.000+Verkaufte Thermal Chucks seit 1972
2 Mrd.+Debonded ICs auf ERS-Anlagen
5Standorte weltweit
-65 °C bis +550 °CTemperaturbereich der Thermal Chucks

Über ERS electronic

Die ERS electronic GmbH mit Sitz in Germering bei München entwickelt und fertigt thermische Management-Lösungen für die Halbleiterindustrie. Das 1970 gegründete Unternehmen produzierte den ersten Thermal Chuck für Wafer-Tests und gilt mit über 10.000 seit 1972 verkauften Chucks, von denen rund 85 % noch im Einsatz sind, als Pionier der thermischen Wafer-Testtechnik. Das Produktportfolio umfasst Thermal Chuck Systeme (AirCool®, AC3, AirCool® PRIME) mit Temperaturen von -65 °C bis +550 °C sowie Maschinen für Advanced Packaging: thermische und photothermische Debonding-Systeme (ADM, APDM650, MDM, MPDM, LumosON™), Warpage Adjustment (WAT330) und den 3D-Wafer-Profiler Wave 3000. Über 25 % der Belegschaft sind Entwickler; mehr als 95 % der Produktion erfolgt im eigenen Werk bei München, was Same-Day-Prototyping aus der eigenen CAD-/CAM-Kette ermöglicht. Verarbeitet werden Silizium-, SiC-, GaN- und GaAs-Wafer sowie geformte Wafer und Panels bis 650×650 mm. Abnehmer sind Wafer-Probing, FOWLP/FOPLP-Fertigung sowie die Automobil- und Sicherheitselektronik; weltweit wurden über zwei Milliarden ICs auf ERS-Anlagen debonded.

Standort
Germering
Verfahren
Thermal Debonding (FOWLP), Thermal Debonding (FOPLP Panel-Level), PhotoThermal Debonding, Warpage Adjustment (TriTemp Slide), Warpage Metrology (3D Wafer Profiling), Thermal Wafer Testing (Wafer Probing Thermal Chucks), Laser Marking (Wafer/Panel-Frontside, 1064 nm Diode-pumped), Temporary Carrier Bonding and Debonding (Panel-Level, 310 x 310 mm)
Werkstoffe
Silicon, Silicon Carbide, Gallium Nitride, Gallium Arsenide, Molded wafer/panel, Silizium, Siliziumkarbid, Galliumnitrid
Zertifikate
ISO 9001:2015
Gegründet
1970
Branchen
Halbleiterindustrie (Wafer-Test/Wafer Probing), Advanced Packaging (FOWLP/FOPLP), Halbleiter-Test und -Produktion, Automobil- und Sicherheitselektronik, Automobil-/Sicherheits-Elektronik (getestete ICs)
  1. 01

    Konstruktion/Entwicklung (eigene Entwicklungsabteilung)

  2. 02

    CAM-Fertigung im eigenen Werk (>95 % der Produktion inhouse)

  3. 03

    Qualitätssicherung durch unabhängige QA-Gruppe

  4. 04

    SECS/GEM-Integration und Inbetriebnahme

  5. 05

    Kundenservice/Support und Warpage Adjustment

Materialien & Verfahren

Si

Silizium

Standard-Substratmaterial für Wafer-Test und thermisches Debonding bis 330 mm.

SiC

Siliziumkarbid

Breitband-Halbleitermaterial, das auf ERS-Debonding-Systemen verarbeitet wird.

GaN

Galliumnitrid

Material für Leistungs-Halbleiter, kompatibel mit ERS Debonding- und Warpage-Prozessen.

GaAs

Galliumarsenid

III-V-Halbleitermaterial für RF-Anwendungen im thermischen Debonding.

PLP

Molded Wafer/Panel

Rekonstituierte Wafer und Panels für FOWLP/FOPLP, Panels bis 650×650 mm.

AC

AirCool®-Luftkühlung

Patentierte Kühlung mit CDA als einzigem Kühlmittel, seit Anfang der 1990er eingeführt.

ACP

ACP-Luftmanagement

Patentiertes Zwei-Pass-Wärmetauschersystem des AC3 mit Turbo-Cooling und Icing-Prävention.

TriTemp

TriTemp Slide

Kontaktloser Temperier- und Transportprozess zur Warpage-Korrektur rekonstituierter Wafer und Panels.

LD

Laser Marking (1064 nm)

Diodengepumptes Laserscribing zur Wafer-/Panel-Frontside-Markierung und Rückverfolgbarkeit.

Standorte

Standort Germering

Germering

DE

Zentrale/Hauptsitz (Stettiner Straße 3+5), Produktion nahe München

Werkstoffe
Silizium, SiC, GaN, GaAs, Molded Wafer
  • Thermal Chuck Systeme AirCool®, AC3, AirCool® PRIME
  • ADM200/ADM330 Gen 3
  • MDM200/MDM330
  • CAD/CAM-Maschinenpark
  • Thermal-Imaging-Tools

Barbing

DE

Produktions- und F&E-Standort ERS Barbing, Kompetenzzentrum Advanced Packaging (Liebigstraße 1)

Werkstoffe
Molded Wafer/Panel
  • APDM650
  • MPDM
  • WAT330
  • Wave 3000
  • LumosON™ LUM300A/LUM600S1

Dallas, TX

US

ERS Americas – Vertrieb/Support

Zhubei

TW

ERS Taiwan – Vertrieb/Demonstrationscenter

Shanghai

CN

ERS China – Vertrieb/Support

Bauteile & Systeme

ADM330 Gen 3 – Automatic Debond Machine
ADM330 Gen 3 – Automatic Debond MachineThermisches Debonding · FOWLP
APDM650 – Automatic Panel Debond Machine
APDM650 – Automatic Panel Debond MachineThermisches Debonding · FOPLP
MPDM – Manual Panel Debond Machine
MPDM – Manual Panel Debond MachineManuelles Debonding · F&E/Pilotlinien
AC3 mit ACP-Luftmanagement-Technologie
AC3 mit ACP-Luftmanagement-TechnologieThermal Chuck · Wafer Probing
TRM310A Thermal Chuck System
TRM310A Thermal Chuck SystemThermal Chuck · Wafer Probing
ADM330 – automatisches Debond-System
ADM330 – automatisches Debond-SystemThermisches Debonding · Advanced Packaging

Einblicke in die Fertigung

ERS Chuck Booster
ERS Chuck Booster
ERS Thermal Chuck Technologie
ERS Thermal Chuck Technologie
ISO 9001-Zertifizierung
ISO 9001-Zertifizierung
TÜV-Zertifizierung
TÜV-Zertifizierung

Branchen

Halbleiterindustrie (Wafer-Test/Wafer Probing)Advanced Packaging (FOWLP/FOPLP)Halbleiter-Test und -ProduktionAutomobil- und SicherheitselektronikAutomobil-/Sicherheits-Elektronik (getestete ICs)

Verfahren & technische Grenzen

VerfahrenToleranzMax. BauteilGewichtLosgrößeWerkstoffe
Thermal Debonding (FOWLP)Additiv–330 mm Wafer––Silicon, Silicon Carbide (SiC), Gallium Nitride (GaN), Gallium Arsenide (GaAs), Molded wafer
Thermal Debonding (FOPLP Panel-Level)Additiv–650 x 650 mm × 650 mm––Molded panel, Silicon, Silicon Carbide (SiC), Gallium Nitride (GaN), Gallium Arsenide (GaAs)
PhotoThermal DebondingAdditiv––––Molded wafer/panel, Silicon, Silicon Carbide (SiC), Gallium Nitride (GaN), Gallium Arsenide (GaAs)
Warpage Adjustment (TriTemp Slide)Wärmebehandlung––––Silicon, Molded wafer/panel
Warpage Metrology (3D Wafer Profiling)Prüfung–––––
Thermal Wafer Testing (Wafer Probing Thermal Chucks)Prüfung–300 mm Wafer (200 mm verfügbar)–––
Laser Marking (Wafer/Panel-Frontside, 1064 nm Diode-pumped)Oberfläche–––––
Temporary Carrier Bonding and Debonding (Panel-Level, 310 x 310 mm)Additiv–310 x 310 mm × 310 mm–––

13 Anlagen & Maschinen

MaschineHersteller / ModellAnzahlArbeitsraumBaujahrStandort
Thermal Chuck SystemERS electronic AirCool®–––Germering/München
Thermal Chuck SystemERS electronic AirCool® PRIME–200 mm und 300 mm Wafer2018–
Thermal Chuck SystemERS electronic AC3 (AC3 Fusion, ACP Technologie)––––
Automatic Debond MachineERS electronic ADM330 (Gen 3)–300/330 mm Wafer; 3126 x 1856 x 2105 mm; Temperatur RT bis +240°C; max. Input Warpage ±5 mm–Germering
Automatic Debond MachineERS electronic ADM200–200 mm Wafer––
Automatic Panel Debond MachineERS electronic APDM650–Panels bis 650 x 650 mm; Temperatur RT-260°C; Uniformität ±3°C; 4,6 x 3 m2021–
Manual/Semi-automatic Debond MachineERS electronic MDM200 / MDM330–200/300/330 mm Wafer; Temperatur -10°C bis +260°C; 2000 x 1050 x 1600 mm; 600 kg––
Manual Panel Debond MachineERS electronic MPDM–Panels bis 615 x 615 mm, Wafer 200/300 mm; Temperatur -10°C bis 260°C; Warpage Input ±10 mm––
Automatic Warpage Adjust ToolERS electronic WAT330––2023–
3D Wafer ProfilerERS electronic Wave 3000––2024–
PhotoThermal Debond Machine (Automatic)ERS electronic LumosON™ LUM300A––––
PhotoThermal Debond Machine (Semi-Automatic, Wafer und Panel)ERS electronic LumosON™ LUM600S1––––
Fully Automated Panel-Level Packaging SystemERS electronic–310 x 310 mm Substrate; 13 Panels pro Stunde2026–

Zusatzleistungen

Konstruktion/Entwicklung (eigene Entwicklungsabteilung, >25 % der Belegschaft)Fertigung (>95 % der Produktion im eigenen Werk bei München)Kundenservice/SupportWarpage AdjustmentLaser-Marking/Wafer-ID-MarkierungSECS/GEM- und GEM300-IntegrationPR & Marketing

Referenzkunden

MPI Corporation (Co-Entwicklung AirCool® PRIME, Integration in TS2000-SE Prober)Fraunhofer IZM (Nutzung der MPDM seit 2018)

Qualität

Eine unabhängige QA-Gruppe mit direktem Zugriff auf Entwicklung und Fertigung überwacht die Produktqualität durchgängig. ERS ist nach ISO 9001:2015 durch TÜV SÜD zertifiziert (Zertifikat 12 100 30597 TMS, gültig bis 2028-02-07).

NachweisGermeringBarbing
ISO 9001:2015

Historie

  1. 1970

    ERS produziert den ersten Thermal Chuck für Wafer-Tests.

  2. 1972

    Seit 1972 wurden über 10.000 Chucks verkauft, ca. 85 % davon sind heute noch im Einsatz.

  3. Späte 1980er

    Echter Produktions-Kältetest in automatischen Wafer-Probern wird mit ERS SuperCool® erstmals möglich.

  4. Anfang der

    Umstellung auf rein luftgekühlte Systeme; Einführung der AirCool®-Technologie mit CDA als einzigem Kühlmittel.

  5. 2005

    Einführung des AC3-Systems mit patentierter ACP-Luftmanagement-Technologie.

  6. 2009

    Auslieferung des ersten automatischen 200-mm-Systems (ADM200).

  7. 2011

    Auslieferung des ersten automatischen 300-mm-Systems (ADM330).

  8. 2018

    Auslieferung des ersten manuellen Panel-Level-Systems (MPDM); Einführung AirCool® PRIME (300 mm, später 200 mm); Partnerschaft mit Woowon Technology (Korea).

  9. 2019

    Microworld (Frankreich) wird Vertriebspartner für Frankreich, Schweiz und Nordafrika.

  10. 2021

    Ankündigung der automatischen Panel-Level-Maschine APDM650 (bis 650×650 mm).

  11. 2022

    Markteinführung ADM330 Gen 3, WAT330 und Wave 3000 3D Wafer Profiler.

  12. 2024

    Global Marketing Services (Indien) wird Vertriebspartner; Eröffnung des Produktions- und F&E-Standorts ERS Barbing inkl. Kompetenzzentrum Advanced Packaging.

  13. 2025

    Neue ISO 9001:2015-Zertifizierung durch TÜV SÜD (gültig bis 2028).

  14. 2026

    Ankündigung eines vollautomatischen Panel-Level-Packaging-Systems für 310×310-mm-Substrate.

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