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F/A Fehleranalyse – Fertigung

Unabhängiges Analyselabor für Fehleranalyse von elektronischen Bauteilen und Leiterplatten.

F/A Fehleranalyse Logo

F/A Fehleranalyse Elektronik GmbH

Neu auf Amplifa

über 25 JahreErfahrung in der Fehleranalyse

Über uns

Die F/A Fehleranalyse Elektronik GmbH ist ein unabhängiges, gut vernetztes Analyselabor für industrielle Analytik im Bereich der Elektronik und Elektrotechnik. Schwerpunkt der Tätigkeit ist die physikalisch/chemische Analyse von fehlerhaften Bauteilen (aktive und passive) sowie von Leiterplatten zur Sicherung von Qualität und Zuverlässigkeit in der Applikation. Dabei kommen eine Vielzahl von Analysemethoden aus der zerstörungsfreien und der zerstörenden Analytik zum Einsatz. Das Unternehmen verfügt über mehr als 25 Jahre Erfahrung und unterstützt seine Kunden vom Prototypenstadium über die Entwicklung bis hin zur Ausfallanalyse im Feld. Kunden stammen unter anderem aus den Branchen Automotive, Elektrotechnik, Luft- und Raumfahrt, Defense und Medizintechnik.

Verfahren
Physikalisch/chemische Analyse fehlerhafter Bauteile (aktive und passive), Analyse fehlerhafter Leiterplatten, Zerstörungsfreie Analytik, Zerstörende Analytik, physikalisch/chemische Analyse von fehlerhaften Bauteilen (aktive und passive), Analyse von Leiterplatten, zerstörungsfreie Analytik, zerstörende Analytik
Werkstoffe
Physikalisch/chemische Analyse fehlerhafter Bauteile, Analyse von Leiterplatten, Zerstörungsfreie Analytik, Zerstörende Analytik
Branchen
Automotive, Elektrotechnik, Luft- und Raumfahrt, Defense, Medizintechnik
  1. 01

    Anfragenklärung

  2. 02

    Zerstörungsfreie Analytik

  3. 03

    Zerstörende Analytik

  4. 04

    Physikalisch/chemische Analyse

  5. 05

    Bewertung und Berichterstellung

Analyseverfahren

PA

Physikalisch/chemische Analyse fehlerhafter Bauteile

Analyse aktiver und passiver Bauteile zur Sicherung von Qualität und Zuverlässigkeit.

LP

Analyse von Leiterplatten

Fehleranalyse an Leiterplatten in der Elektronikfertigung.

ZFA

Zerstörungsfreie Analytik

Analysemethoden ohne Eingriff in das Prüfmuster.

ZA

Zerstörende Analytik

Analysemethoden mit Eingriff in das Prüfmuster, z. B. zur internen Strukturuntersuchung.

Analysierte Objekte

Röntgenanalyse von Pin-Lötstellen und Via-Kontakten
Röntgenanalyse von Pin-Lötstellen und Via-KontaktenZerstörungsfreie Analytik · Elektronik

Branchen

AutomotiveElektrotechnikLuft- und RaumfahrtDefenseMedizintechnik

Verfahren & technische Grenzen

VerfahrenToleranzMax. BauteilGewichtLosgrößeWerkstoffe
Physikalisch/chemische Analyse fehlerhafter Bauteile (aktive und passive)Prüfung–––––
Analyse fehlerhafter LeiterplattenPrüfung–––––
Zerstörungsfreie AnalytikPrüfung–––––
Zerstörende AnalytikPrüfung–––––

Zusatzleistungen

physikalisch/chemische Analyse von fehlerhaften Bauteilen (aktive und passive)Analyse von Leiterplattenzerstörungsfreie Analytikzerstörende Analytikindustrielle Analytik in Elektronik und Elektrotechnik

Historie

  1. Über 25 Jahre Erfahrung in der Fehleranalyse elektronischer Bauteile

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