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Freiberg Instruments – Fertigung

Entwicklung und Fertigung von Mess- und Automatisierungssystemen für Halbleiter-, Quarz- und Photovoltaikindustrie

Freiberg Instruments Logo

Freiberg Instruments GmbH

Freiberg · ShanghaiNeu auf Amplifa

+100Mitarbeitende
3.000+Installierte Messsysteme weltweit
11Vertriebsbüros weltweit
2Standorte (Freiberg, Shanghai)

Über Freiberg Instruments

Die Freiberg Instruments GmbH mit Sitz in Freiberg (Sachsen) entwickelt und fertigt Präzisionsmesstechnik und Automatisierungslösungen für die Halbleiter-, Mikroelektronik-, Photovoltaik-, Chemie- und Medizintechnikbranche. Das Produktspektrum umfasst Röntgen-Diffraktometer (XRD) für Kristallorientierung und Qualitätskontrolle von Silizium-, SiC- und Quarz-Proben, kontaktlose Lifetime- und Resistivitäts-Messsysteme (MDP), Oberflächen-Photovoltage-Spektroskopie, Lumineszenz-Lesegeräte (TL/OSL), Batterie-Formationssysteme, Strahlungsüberwachungssysteme sowie Raman-Sensorik. Die Systeme werden kundenspezifisch angepasst und in Produktionslinien integriert; dazu gehören Roboterhandhabung, softwaregesteuerte Workflows, Schulung, technischer Support und projektbezogene Verpackung inklusive ISPM-15-Holzkisten. Das Unternehmen entstand als Universitätsspin-off und weist mehr als 20 Jahre Erfahrung mit über 3.000 installierten Messsystemen weltweit auf. Mit über 100 Mitarbeitenden und 11 Vertriebsbüros beliefert Freiberg Instruments Industrie und Forschungskooperationen wie Fraunhofer-Institute und die TU Bergakademie Freiberg.

Standort
Freiberg
Verfahren
Röntgendiffraktometrie (XRD) für Kristallorientierung, Sample-Ausrichtung und Qualitätskontrolle, Resistivity Mapping (RESmap, THzmap) für Halbleiter-Qualitätskontrolle, PID-Test (Potential Induced Degradation) für c-Si Solarzellen und Mini-Module, Lumineszenz-Datierung und Dosimetrie (TL/OSL-Systeme), Battery Cell Formation und Testing (Syntropic Cell Technology / FormationIQ), Strahlungsüberwachung (Radiation Monitoring Systems), Raman-Sensorik für Polymer- und Halbleiter-Sortierung, Magnetische Schwebewägung (Magnetic Suspension Balance) für hochgenaue Sorptionsmessungen
Werkstoffe
Silizium (mono- und multikristallin), Siliziumkarbid, Galliumarsenid, Cadmiumtellurid, Indiumphosphid, Zinksulfid, Germanium, Galliumnitrid
Zertifikate
ISO 9001:2015, EcoVadis Bronze, CE-Konformität
Mitarbeiter
+100 Experten
Branchen
Halbleiter, Mikroelektronik, Photovoltaik, Chemie, Medizintechnik, Batterietechnologie
  1. 01

    Forschung & Entwicklung

  2. 02

    Systemdesign & Konstruktion

  3. 03

    Fertigung & Software-Integration

  4. 04

    Automatisierte Sample-Handhabung & Inbetriebnahme

  5. 05

    Qualitätskontrolle nach ISO 9001

  6. 06

    Logistik & Verpackung

  7. 07

    Schulung & technischer Support

Werkstoffe & Messtechnologien

XRD

Röntgen-Diffraktometrie

Kristallorientierung, Sample-Ausrichtung und Qualitätskontrolle an Si-, SiC- und Quarz-Proben.

MDP

Microwave Detected Photoconductivity

Kontaktlose, zerstörungsfreie Lifetime- und Resistivitätsmessung nach SEMI PV9-1110.

SPS

Surface Photovoltage Spectroscopy

Kontaktlose Charakterisierung elektro-optischer Materialparameter.

Si

Silizium

Mono- und multikristalline Ingots, Bricks und Wafers bis 450 mm Durchmesser.

SiC

Siliziumkarbid

Automatisierte 200-mm-Ingotaufbereitung für OD/Notch-Spezifikationen.

Quarz

Quarz

Bar-Alignment, Wafer-Analyse und Blank-Sortierung mit ≤10 arcsec Standardabweichung.

TL/OSL

Lumineszenz-Dosimetrie

TL/OSL-Systeme für Geochronologie, Archäologie und Strahlungs-Dosimetrie.

Standorte

Standort Freiberg

Freiberg

DE

Headquarters, Fertigung und Entwicklung

Werkstoffe
Si, SiC, GaAs, CdTe, InP, ZnS, Ge, GaN, Quarz
  • XRD-Serie (Ingot XRD, Ingot XRD SiC, XRDmap Pro, Omega/Theta XRD, DDCOM, SDCOM, Wafer XRD)
  • Quartz XRD-Serie
  • MDPpro / MDPpro 850+
  • RESmap / THzmap
  • HR-SPSmap, SPSresearch, SPSmap Heat
  • PIDcon bifacial
  • lexsyg TL/OSL-Lesegeräte
  • FormationIQ
  • MSBsorp
  • RAMSES-4-CE
  • Strahlungsüberwachungssysteme (SmartKONT, GM 2100 u. a.)

Systeme & Komponenten

Ingot XRD SiC
Ingot XRD SiCRöntgendiffraktometrie · Halbleiter
XRDmap Pro
XRDmap ProInline-Wafer-Orientierungsmapping · Halbleiter
MDPmap
MDPmapLifetime-Messung · Photovoltaik
MDPpro 850+
MDPpro 850+Lifetime- & Resistivitätsmessung · Photovoltaik
RESmap
RESmapResistivity Mapping · Halbleiter
THzmap
THzmapTHz-Mapping · Halbleiter
Quartz Blank XRD
Quartz Blank XRDBlank-Sortierung · Quarzindustrie
HR-SPSmap
HR-SPSmapSurface Photovoltage Spektroskopie · Forschung

Einblicke in die Fertigung

Omega/Theta XRD – Kristallorientierung
Omega/Theta XRD – Kristallorientierung
Wafer XRD – automatisierte Wafer-Qualitätskontrolle
Wafer XRD – automatisierte Wafer-Qualitätskontrolle
PolarityPen – Bestimmung der Kristalloberflächenpolarität
PolarityPen – Bestimmung der Kristalloberflächenpolarität
SPSresearch – variable Anregungsquelle
SPSresearch – variable Anregungsquelle
SPSmap Heat – Integration in Glovebox
SPSmap Heat – Integration in Glovebox

Branchen

HalbleiterMikroelektronikPhotovoltaikChemieMedizintechnikBatterietechnologieStrahlungsüberwachungForschungMicroelectronics

Verfahren & technische Grenzen

VerfahrenToleranzMax. BauteilGewichtLosgrößeWerkstoffe
Röntgendiffraktometrie (XRD) für Kristallorientierung, Sample-Ausrichtung und QualitätskontrollePrüfung––––Si, SiC, Quarz
Prüfung≤ 10 arcsec Standardabweichung; Alignment ±0,03° (AT & TF)––bis 700 Blanks/h bzw. 350 Wafers/hQuarz
Resistivity Mapping (RESmap, THzmap) für Halbleiter-QualitätskontrollePrüfung––––Si, Halbleiter
Prüfung–210 x 210 mm (Brick)–>240 Bricks/Tag bzw. >720 Wafers/TagSi, SiC, Galliumarsenid, CdTe, InP, ZnS, Perovskit, Oxide, Wide-Bandgap-Materialien, Epitaxial Layers, Germanium, GaN
Prüfung–850 mm oder länger (Brick) × 125x125 bis 210x210 mm (Ingot)––Si (monokristallin), Perovskit
PID-Test (Potential Induced Degradation) für c-Si Solarzellen und Mini-ModulePrüfung–bis 210 x 210 mm––c-Si (Solarzellen)
Lumineszenz-Datierung und Dosimetrie (TL/OSL-Systeme)Prüfung–––––
Battery Cell Formation und Testing (Syntropic Cell Technology / FormationIQ)Prüfung–––GWh-scale (FormationIQ Module)–
Strahlungsüberwachung (Radiation Monitoring Systems)Prüfung–––––
Raman-Sensorik für Polymer- und Halbleiter-SortierungPrüfung––––Kunststoff, Halbleiter
Magnetische Schwebewägung (Magnetic Suspension Balance) für hochgenaue SorptionsmessungenPrüfung–––––
Prüfung––––Halbleiter
Double Prism Monochromator (DPM100) für SpektralanalysePrüfung–––––
Engineering–––––
Engineering–––––
Forschung & Entwicklung – Neuentwicklung Messtechnik, Prototyping & TestingEngineering–––––
Training und Application Expertise (Schulung vor Ort, remote, in Freiberg)Engineering–––––
Technical Support (Remote Assistance, Reparaturen, Ersatzteile & Upgrades)Engineering–––––
Engineering–––––
Ingot XRD – Ingotaufbereitung für OD/Notch-Spezifikationen (SiC, 200 mm)Prüfung–200 mm (SiC-Ingot)––SiC

14 Anlagen & Maschinen

MaschineHersteller / ModellAnzahlArbeitsraumBaujahrStandort
–Freiberg Instruments–––Freiberg
Quarz-XRD-Diffraktometer (Bar/Wafer/Blank, X-ray tube 1,5 kW Cu-Anode)Freiberg Instruments Quartz XRD series (Quartz Bar XRD, Quartz Wafer XRD, Quartz Blank XRD)–Wafer 20x20 bis 80x80 mm; Blanks 1x1 bis 17x17 mm–Freiberg
Lifetime-Messsystem (μPCD/MDP)Freiberg Instruments MDPpro–––Freiberg
Lifetime- & Resistivity-Messsystem für monokristalline Si-Ingots/Bricks/WafersFreiberg Instruments MDPpro 850+–––Freiberg
Resistivity Mapping SystemFreiberg Instruments RESmap / THzmap–––Freiberg
Surface Photovoltage Spektroskopie-SystemeFreiberg Instruments HR-SPSmap, SPSresearch, SPSmap Heat–––Freiberg
Double Prism MonochromatorFreiberg Instruments DPM100–––Freiberg
Benchtop PID-TesterFreiberg Instruments PIDcon bifacial–Sample bis 210x210 mm; Gerät 350x330x280 mm, ca. 20 kg–Freiberg
TL/OSL-Lumineszenz-LesegeräteFreiberg Instruments–––Freiberg
Battery Formation & Testing SystemeFreiberg Instruments FormationIQ Module, FormationIQ Matrix, FormationIQ Board–––Freiberg
Magnetic Suspension BalanceFreiberg Instruments MSBsorp–––Freiberg
Raman-Sensor (vollautomatisch, für Polymer-/Halbleiter-Sortierung)Freiberg Instruments RAMSES-4-CE–––Freiberg
StrahlungsüberwachungssystemeFreiberg Instruments SmartKONT, Comet2500, SmartRAY2, Beta-Aerosol monitor, GM 2100–––Freiberg
Angle SorterFreiberg Instruments Angle Sorter–––Freiberg

Zusatzleistungen

CustomizationAutomationResearch and DevelopmentTraining and Application ExpertiseTechnical SupportLogistics and Packaging

Referenzkunden

Fraunhofer CSP (Entwicklungskooperation)Fraunhofer IISBFraunhofer ISEHZDRNaMLabHelmholtz-Zentrum BerlinQ-CellsTopticaTU Bergakademie FreibergHS Anhalt

Qualität & Zertifizierung

Die Systeme werden nach ISO 9001:2015 gefertigt und sind CE-konform; die Qualitätssicherung umfasst automatisierte Messdatenauswertung, Wiederholgenauigkeit > 99 % und traceable Messergebnisse.

NachweisFreiberg
ISO 9001:2015
EcoVadis Bronze
CE-Konformität

Historie

  1. 2005

    Als Universitätsspin-off gegründet; über 20 Jahre Erfahrung in der Entwicklung von Messtechnik.

  2. 2024

    Mehr als 3.000 installierte Messsysteme weltweit, 11 Vertriebsbüros, über 100 Mitarbeitende.

  3. 2030

    Ziel: Netto-Null bei betrieblichen Emissionen und EcoVadis Gold.

  4. 2040

    Ziel: Netto-Null über die gesamte Wertschöpfungskette.

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