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Entwickelt und fertigt Messgeräte für Schichtdickenmessung, Materialanalyse und Werkstoffprüfung.
HELMUT FISCHER GMBH
Sindelfingen (Hauptquartier)Neu auf Amplifa
Über Helmut Fischer
Die HELMUT FISCHER GMBH mit Sitz in Sindelfingen entwickelt und produziert seit 1953 Messlösungen für Schichtdickenmessung, Materialanalyse und Werkstoffprüfung. Das Portfolio umfasst Röntgenfluoreszenz-Messgeräte (XRF) für Schichtdicken und Elementaranalysen, taktile Messgeräte für magnetinduktive und wirbelstrombasierte Messverfahren, Leitfähigkeits- und Ferritgehalt-Messgeräte sowie automatisierte Messsysteme für die Inline-Qualitätskontrolle. Ergänzend werden Polycapillar-Röntgenoptiken für OEM-Anwendungen, Kalibrierstandards sowie Software wie WinFTM und FISIQ X angeboten. Einsatzgebiete liegen unter anderem in Elektronik, Halbleiterfertigung, Galvanotechnik, Automotive, Edelmetallwirtschaft, Luft- und Raumfahrt sowie in Prüflaboren. Mit mehr als 800 Mitarbeitenden, 21 eigenen Tochtergesellschaften und Lieferungen in über 200 Länder unterstützt das Unternehmen seine Kunden zudem mit Applikationsberatung, Schulungen, Kalibrierung und Wartung. Das eigene DAkkS-akkreditierte Kalibrierlabor in Deutschland prüft und zertifiziert Kalibriernormale für Kunden weltweit.
- Standort
- Sindelfingen
- Verfahren
- Röntgenfluoreszenz-Analyse (XRF) – energiedispersive Röntgenfluoreszenz, Schichtdickenmessung, Materialanalyse, Materialprüfung (Ferritgehalt, elektrische Leitfähigkeit), Magnetisch induktive Messmethode, Amplituden-sensitive Wirbelstrom-Messmethode, Phasen-sensitive Wirbelstrom-Messmethode, Duplex-Schichtdickenmessung
- Werkstoffe
- Zink (Zn) Beschichtung, Zink-Nickel (Zn-Ni) Beschichtung, Nichtrostender Stahl (Edelstahl), Duplex-Stahl, Austenitischer Stahl, Aluminiumlegierungen, Gold, Kupferlegierungen
- Zertifikate
- ISO 9001:2015, ISO/IEC 17025:2018, ISO/IEC 17025:2017, ISO/IEC 17025 (DAkkS-Kalibrierlabor), ISO/IEC 17025 (weitere akkreditierte Labore international), DIN-Mitgliedschaft
- Gegründet
- 1953
- Mitarbeiter
- 800
- Branchen
- Elektronik, Halbleiter, Galvanotechnik, Automotive, Edelmetalle/Schmuck, Lacke und Farben
- 01
Forschung und Entwicklung
- 02
Gerätefertigung
- 03
Applikationsberatung und Probenanalyse
- 04
Vertrieb und Onsite-Beratung
- 05
Kundendienst, Kalibrierung, Wartung und Reparatur
Messverfahren und Analysen
Röntgenfluoreszenz-Analyse (energiedispersiv)
Zerstörungsfreie Schichtdickenmessung und Elementaranalyse an Metalllegierungen, Edelmetalllegierungen und Galvaniklösungen.
Röntgenfluoreszenz-Mikroanalyse
Hochpräzise Analyse dünnster Schichten, komplexer Geometrien und Multilayer-Systeme, u. a. auf Wafern und Leiterplatten.
Magnetinduktives Messverfahren
Schichtdickenmessung nichtmagnetischer Schichten auf ferromagnetischen Grundwerkstoffen.
Wirbelstromverfahren (amplituden- und phasensensitiv)
Schichtdickenmessung nichtleitender Schichten auf Nichteisenmetallen sowie Duplex-Messung.
Coulometrisches Messverfahren
Galvanische Abtragung zur Schichtdickenbestimmung über mehrere Schichten hinweg.
Ferritgehalt-Messung
Schnelle Prüfung von Schweißnähten und austenitischen bzw. Duplex-Stählen.
Elektrische Leitfähigkeitsmessung
Sortierung von Aluminiumlegierungen, Wärmebehandlungsprüfung und Echtheitstest von Goldbarren und -münzen.
Beta-Backscatter-Messverfahren
Schichtdickenmessung, u. a. an Leiterplatten.
Terahertz-Messung
Messverfahren für nichtleitende Schichten und Anwendungen, die keine Röntgenstrahlung erfordern.
Standorte
Sindelfingen
DEHauptquartier, Entwicklung, Fertigung, DAkkS-Kalibrierlabor
- Röntgenfluoreszenz-Messgeräte (XRF)
- Taktile Messgeräte
- Automatisierte Messsysteme
- Polycapillary-Röntgenoptiken
Branchen
Verfahren & technische Grenzen
| Verfahren | Toleranz | Max. Bauteil | Gewicht | Losgröße | Werkstoffe |
|---|---|---|---|---|---|
| Röntgenfluoreszenz-Analyse (XRF) – energiedispersive RöntgenfluoreszenzPrüfung | – | – | – | – | Metal alloys, Precious metal alloys, plating solutions |
| SchichtdickenmessungPrüfung | – | – | – | – | – |
| MaterialanalysePrüfung | – | – | – | – | – |
| Materialprüfung (Ferritgehalt, elektrische Leitfähigkeit)Prüfung | – | – | – | – | austenitic steels, duplex steels, Non-ferrous metals, gold |
| Magnetisch induktive MessmethodePrüfung | – | – | – | – | – |
| Amplituden-sensitive Wirbelstrom-MessmethodePrüfung | – | – | – | – | – |
| Phasen-sensitive Wirbelstrom-MessmethodePrüfung | – | – | – | – | – |
| Duplex-SchichtdickenmessungPrüfung | – | – | – | – | – |
| Magnetische MessmethodePrüfung | – | – | – | – | – |
| Mikrowiderstands-MessmethodePrüfung | – | – | – | – | – |
| Beta-Backscatter-MessmethodePrüfung | – | – | – | – | – |
| Coulometrische MessmethodePrüfung | – | – | – | – | – |
| Terahertz-MessungPrüfung | – | – | – | – | – |
| Ferritgehalt-MessungPrüfung | – | – | – | – | austenitic claddings, duplex steels, stainless steel weld seams |
| Elektrische LeitfähigkeitsmessungPrüfung | – | – | – | – | aluminum alloys, gold |
| Gold-/Edelmetallanalyse (Echtheits- und Wertbestimmung)Prüfung | – | – | – | – | gold, precious metals, dental alloys |
| Kalibrierung und Zertifizierung von Normalen (DAkkS-Kalibrierlabor)Prüfung | – | – | – | – | – |
| Bath-/Lösungsanalyse (Galvanikbäder per XRF)Prüfung | – | – | – | – | metal plating solutions |
| Spurenanalyse & RoHS-ScreeningPrüfung | – | – | – | – | – |
34 Anlagen & Maschinen
| Maschine | Hersteller / Modell | Anzahl | Arbeitsraum | Baujahr | Standort |
|---|---|---|---|---|---|
| Röntgenfluoreszenz-Messgerät (XRF Tischgerät) | Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XULM/XUL | – | – | – | – |
| Röntgenfluoreszenz-Messgerät (XRF Tischgerät) | Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XAN | – | – | – | – |
| Gold-Testgerät (XRF) | Helmut Fischer GOLDSCOPE SD | – | – | – | – |
| Gold-Testgerät (XRF) | Helmut Fischer GOLDSCOPE SD 600 | – | – | – | – |
| Röntgenfluoreszenz-Messgerät (XRF) | Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 600 | – | – | – | – |
| Röntgenfluoreszenz-Messgerät (XRF) | Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDL | – | – | – | – |
| Röntgenfluoreszenz-Messgerät (XRF) | Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDLM | – | – | – | – |
| Röntgenfluoreszenz-Messgerät (XRF) | Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDAL | – | – | – | – |
| Röntgenfluoreszenz-Messgerät (XRF, SDD-Detektor) | Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD | – | – | – | – |
| Röntgenfluoreszenz-Mikroanalyse (µ-XRF) | Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ | – | – | – | – |
| Röntgenfluoreszenz-Mikroanalyse | Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ LD | – | – | – | – |
| Röntgenfluoreszenz-Messgerät für Wafer | Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ WAFER | – | – | – | – |
| Röntgenfluoreszenz-Messgerät für Leiterplatten (PCB) | Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB | – | – | – | – |
| Röntgenfluoreszenz-Messgerät für Leiterplatten (PCB) | Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDAL-PCB | – | – | – | – |
| Röntgenfluoreszenz-Messgerät für Leiterplatten (PCB) | Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ PCB | – | – | – | – |
| Röntgenfluoreszenz-Messgerät für großformatige Leiterplatten (High-Throughput-QC) | Helmut Fischer FISCHERSCOPE XDV-µ PCB XL | – | größter Messbereich (laut Hersteller) | – | – |
| Röntgenfluoreszenz-Messgerät | Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500 | – | – | – | – |
| Taktiles Messgerät (Leitfähigkeits-/Schichtdickenmessung) | Helmut Fischer MP0 series | – | – | – | – |
| Taktiles Messgerät | Helmut Fischer DMP10-40 series | – | – | – | – |
| Duplex-Schichtdickenmessgerät | Helmut Fischer DUALSCOPE FMP100 / H FMP150 | – | – | – | – |
| Messgerät für Kupferdicke auf Leiterplatten | Helmut Fischer SR-SCOPE DMP30 | – | – | – | – |
| Phasen-sensitive Schichtdickenmessgerät | Helmut Fischer PHASCOPE PMP10 / PMP10 DUPLEX | – | – | – | – |
| Coulometrisches Messgerät | Helmut Fischer COULOSCOPE CMS2 / CMS2 STEP | – | – | – | – |
| Mikroresistivity-/Mehrpunkt-Messsystem | Helmut Fischer FISCHERSCOPE MMS PC2 | – | – | – | – |
| Beta-Backscatter-Messgerät | Helmut Fischer BETASCOPE | – | – | – | – |
| Leitfähigkeitsmessgerät | Helmut Fischer SIGMASCOPE SMP350 | – | – | – | – |
| Leitfähigkeitsmessgerät für Goldbarren/-münzen | Helmut Fischer SIGMASCOPE GOLD B / GOLD C | – | – | – | – |
| Ferritgehalt-Messgerät | Helmut Fischer FERITSCOPE DMP30 | – | – | – | – |
| Automatisiertes XRF-Messsystem | Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY 5000 series | – | – | – | – |
| Automatisiertes XRF-Messsystem | Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY 4000 series | – | – | – | – |
| Automatisiertes µ-XRF-System für Halbleiter | Helmut Fischer FISCHERSCOPE X-RAY XDV-µ SEMI | – | – | – | – |
| XRF-Lösungsanalyser für Galvanikbäder | Helmut Fischer FISCHERSCOPE XAN LIQUID ANALYZER | – | – | – | – |
| Automatisiertes Materialtestsystem | Helmut Fischer FISCHERSCOPE MMS Automation | – | – | – | – |
| Polycapillar-Röntgenoptik (OEM) | Helmut Fischer Polycapillary optics | – | – | – | – |
Zusatzleistungen
Referenzkunden
Qualität und Akkreditierung
Das Unternehmen ist nach ISO 9001:2015 zertifiziert und betreibt ein DAkkS-akkreditiertes Kalibrierlabor in Deutschland sowie weitere akkreditierte Labore nach ISO/IEC 17025 in den USA, der Schweiz, China und Mexiko. Als DIN-Mitglied wirkt es an der deutschen Normung mit.
| Nachweis | Sindelfingen |
|---|---|
| ISO 9001:2015 | |
| ISO/IEC 17025 (DAkkS-Kalibrierlabor) | |
| ISO/IEC 17025 (weitere akkreditierte Labore international) | |
| DIN-Mitgliedschaft |
Unternehmenshistorie
- 1953
Gründung durch Helmut Fischer.