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IDC Micro Inspection – Fertigung

Automationssoftware und Inspektionslösungen für Keyence VHX Mikroskope in der Wafer- und Materialanalyse

IDC Micro Inspection Logo

IDC Micro Inspection GmbH

SchweizNeu auf Amplifa

GmbHRechtsform

Über IDC Micro Inspection

IDC Micro Inspection GmbH entwickelt ScanX, eine Automations- und Steuerungssoftware für Keyence VHX Digitale Mikroskope. Die Software automatisiert Mikroskop-Inspektionen durch Rezept-basiertes Scannen, automatische Referenzmarken- und Fiducial-Erkennung, unbegrenztes Image Stitching sowie automatische Partikeldetektion mit Reports. Über eine HTTP-REST-API lässt sich ScanX aus Python und MATLAB steuern; KLARF- und SINF-Map-Dateien werden importiert und verarbeitet. Ergänzend bietet das Unternehmen eigene Hardware wie Multi-Zone Wafer Vacuum Chucks für 100–300 mm Wafer, Universal Bread Boards für die SL1 Stage sowie einen anpassbaren 300-mm-Inspektionsstage (MI-300 mit VK-S1000K). ScanX steuert Keyence Mikroskope und Stages, Aerotech-, Peak Metrology- und Prior Scientific-Stages. Kunden kommen aus Halbleiter-/Wafer-Inspektion, Mikroskopie/Materialanalyse und Forschung. Das Unternehmen bietet Online-Demos mit einem voll ausgestatteten VHX X1 mit SL1 300-mm-Stage an.

Standort
Schweiz
Verfahren
Automatisierte Mikroskop-Inspektion / Mikroskopie-Scanning (ScanX Software für Keyence VHX), Automationssoftware für Keyence VHX Mikroskope (ScanX), Automatisches Scannen nach Rezepten, Referenzmarken-/Fiducial-Erkennung, Bild-Stitching (unbegrenzt), HTTP REST API für Python und MATLAB, KLARF- und SINF-Map-Handling, Automatische Partikeldetektion und Reports
Werkstoffe
Automations- und Steuerungssoftware, HTTP REST API (Python/MATLAB), IDC 300-mm-Inspektionsstage mit VK-S1000K, Multi-Zone Wafer Vacuum Chuck für VHX SL1
Branchen
Halbleiter/Wafer-Inspektion, Mikroskopie/Materialanalyse, Forschung
  1. 01

    Software-Entwicklung (ScanX)

  2. 02

    Hardware-Entwicklung (Stages, Vacuum Chucks, Bread Boards)

  3. 03

    Integration & Inbetriebnahme

  4. 04

    Support & Online-Demos

Produkte & Kompatibilität

ScanX

Automations- und Steuerungssoftware

Rezept-basierte Steuerung von Keyence VHX Mikroskopen mit Stitching, Partikeldetektion und KLARF/SINF-Map-Handling.

API

HTTP REST API (Python/MATLAB)

Ermöglicht die Integration und Steuerung von ScanX-Prozessen in eigene Python- und MATLAB-Skripte.

MI-300

IDC 300-mm-Inspektionsstage mit VK-S1000K

Anpassbarer Positionier- und Inspektionsstage für 300-mm-Wafer.

Wafer Chuck

Multi-Zone Wafer Vacuum Chuck für VHX SL1

Für Wafer 100–300 mm (flat, notch bottom, notch left) sowie Dicing Frames 6/8/12 inch.

Standort

Standort Schweiz

Schweiz

CH

Entwicklung, Integration und Support

  • Keyence VHX X1 Mikroskop
  • Keyence VHX-7000N (VHX-7100/7020)
  • Keyence SL1 Stage (300×300 mm)
  • Keyence S750E Stage (100×100 mm)
  • IDC MI-300 300-mm-Stage mit VK-S1000K
  • Aerotech Stages
  • Peak Metrology Stages
  • Prior Scientific Stages und Controller
  • Multi-Zone Wafer Vacuum Chucks 100–300 mm
  • Universal Bread Board (377×388 mm, M4/25 mm)

Komponenten

Multi-Zone Wafer Vacuum Chuck für Keyence VHX SL1
Multi-Zone Wafer Vacuum Chuck für Keyence VHX SL1100–300 mm Wafer · Halbleiter-Inspektion
Universal Bread Board für SL1 Stage
Universal Bread Board für SL1 Stage377×388 mm, M4-Gewinde · Positionierung
MI-300 300-mm-Inspektionsstage mit VK-S1000K
MI-300 300-mm-Inspektionsstage mit VK-S1000KAnpassbarer Stage · Wafer-Inspektion
Keyence SL1 Stage (300×300 mm)
Keyence SL1 Stage (300×300 mm)Positionierstage · Automatisierte Mikroskopie

Einblicke in die Fertigung

Automatisierte Mikroskop-Inspektion mit ScanX
Automatisierte Mikroskop-Inspektion mit ScanX
ScanX Automation Control Software für Keyence VHX
ScanX Automation Control Software für Keyence VHX
Inspektionsstage und Komponenten
Inspektionsstage und Komponenten
Online-Demo: VHX X1 mit SL1 300-mm-Stage
Online-Demo: VHX X1 mit SL1 300-mm-Stage
Wafer-Inspektion und Stitching
Wafer-Inspektion und Stitching

Branchen

Halbleiter/Wafer-InspektionMikroskopie/MaterialanalyseForschung

Verfahren & technische Grenzen

VerfahrenToleranzMax. BauteilGewichtLosgrößeWerkstoffe
Automatisierte Mikroskop-Inspektion / Mikroskopie-Scanning (ScanX Software für Keyence VHX)Prüfung–––––

10 Anlagen & Maschinen

MaschineHersteller / ModellAnzahlArbeitsraumBaujahrStandort
Digitales MikroskopKeyence VHX X1––––
Digitales MikroskopKeyence VHX-7000N with VHX-7100 or VHX-7020––––
Positionier-/InspektionsstageKeyence SL1–300x300mm––
Positionier-/InspektionsstageKeyence S750E–100x100mm––
Positionier-/InspektionsstageAerotech––––
Positionier-/InspektionsstagePeak Metrology––––
Customizable 300mm stageIDC MI-300 with VK-S1000K–300mm––
Positionier-/Inspektionsstage und ControllerPrior Scientific––––
Wafer Vacuum Chuck (Multi-Zone) für Keyence VHX SL1––für Wafer 100–300mm; Dicing Frames 6/8/12 inch––
Universal Bread Board für SL1 Stage––377x388mm, M4 Gewinde mit 25mm Teilung––

Zusatzleistungen

Automationssoftware für Keyence VHX Mikroskope (ScanX)Automatisches Scannen nach RezeptenReferenzmarken-/Fiducial-ErkennungBild-Stitching (unbegrenzt)HTTP REST API für Python und MATLABKLARF- und SINF-Map-HandlingAutomatische Partikeldetektion und ReportsOffline-Stitching (Image Processor)Wafer Vacuum Chucks für 100–300 mm WaferUniversal Bread Board für SL1 StageOnline-Demos
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