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Vermittlung von Oberflächenanalyse-Methoden (IGC, ToF-SIMS, XPS, SEM) für die Produktentwicklung
Inolytix AG
Bahnhofstrasse 35, 4334 Sisseln, SchweizNeu auf Amplifa
Über Inolytix
Inolytix AG ist ein Schweizer Dienstleistungsunternehmen mit Sitz in Sisseln (Kanton Aargau), das auf die Vermittlung und Beratung von Analysemethoden für die physikalisch-chemische Oberflächenanalyse spezialisiert ist. Das Unternehmen unterstützt F&E-Abteilungen, insbesondere der chemischen und Spezialitätenchemie-Industrie, bei der Auswahl der für ihre Fragestellung geeigneten Messmethode und vermittelt Aufgaben an ein Netzwerk erfahrener Analyse-Partnerlabors in Deutschland und der Schweiz. Das Angebot umfasst Methoden wie Inverse Gaschromatographie (IGC), ToF-SIMS, XPS, Mikro-/Nanotomographie, Rasterelektronenmikroskopie (SEM) und Quarzmikrowaage (QCM). Inolytix übernimmt dabei die komplette Abwicklung – von der Beratung und kostenlose 30-minütigen Erstberatung über das Angebot und den Probenversand bis zum detaillierten Bericht und der Rechnungsstellung. Gründer und Geschäftsführer Dr. Ralf Dümpelmann verfügt über 20 Jahre Erfahrung in leitenden F&E-Funktionen der Spezialitätenchemie.
- Standort
- Sisseln, Schweiz
- Verfahren
- IGC (Inverse Gaschromatographie), ToF SIMS, XPS, Mikro-/Nanotomographie, SEM, QCM, Vermittlung von Analysemethoden für physikalisch-chemische Oberflächenanalyse (IGC, ToF-SIMS, XPS,, Beratung zur Auswahl der passenden Analysemethode
- Werkstoffe
- Inverse Gaschromatographie, Time-of-Flight Sekundärionen-Massenspektrometrie, Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Mikro-/Nanotomographie, Rasterelektronenmikroskopie, Quarzmikrowaage
- Branchen
- Chemische Industrie / Spezialitätenchemie, F&E-Abteilungen
- 01
Erstberatung und Analyse der Fragestellung
- 02
Auswahl der passenden Analysemethode
- 03
Vermittlung an Partnerlabor in Deutschland oder der Schweiz
- 04
Kostenklärung und Angebot
- 05
Probenversand
- 06
Durchführung der Analyse
- 07
Detaillierter Bericht
- 08
Rechnungsstellung
Analysemethoden
Inverse Gaschromatographie
Physikalisch-chemische Charakterisierung von Oberflächen und Grenzflächen.
Time-of-Flight Sekundärionen-Massenspektrometrie
Chemische Oberflächenanalyse mit hoher Empfindlichkeit.
Röntgenphotoelektronenspektroskopie
Bestimmung der chemischen Zusammensetzung oberster Oberflächenschichten.
Mikro-/Nanotomographie
Dreidimensionale Abbildung von Probenstrukturen im Mikro- und Nanobereich.
Rasterelektronenmikroskopie
Hochauflösende Abbildung von Oberflächen und Strukturen.
Quarzmikrowaage
Messung von Masseänderungen und Wechselwirkungen an Oberflächen.
Standorte
Sisseln
CHHauptsitz mit Beratung und Vermittlung von Analyseleistungen
Branchen
Verfahren & technische Grenzen
| Verfahren | Toleranz | Max. Bauteil | Gewicht | Losgröße | Werkstoffe |
|---|---|---|---|---|---|
| IGC (Inverse Gaschromatographie)Prüfung | – | – | – | – | – |
| ToF SIMSPrüfung | – | – | – | – | – |
| XPSPrüfung | – | – | – | – | – |
| Mikro-/NanotomographiePrüfung | – | – | – | – | – |
| SEMPrüfung | – | – | – | – | – |
| QCMPrüfung | – | – | – | – | – |
1 Anlagen & Maschinen
| Maschine | Hersteller / Modell | Anzahl | Arbeitsraum | Baujahr | Standort |
|---|---|---|---|---|---|
| IGC-Messgerät | Adscientis | – | – | – | – |
Zusatzleistungen