Ist das Ihr Unternehmen? Profil übernehmen
AI-Tools und Engineering-Dienstleistungen für Halbleitertest, von Design for Test bis Yield-Management im Volumen.
SilTest Semiconductors GmbH
Kleve (DE) · Doha (QA) · Bangalore (IN)Neu auf Amplifa
Über SilTest
SilTest Semiconductors GmbH ist ein auf Halbleitertest spezialisiertes Engineering-Unternehmen mit Sitz in Kleve. Das Unternehmen entwickelt und lizenziert KI-Tools wie VISTAR, YieldOptiX, STDF Quick Viewer, DefectOptiX und CertOptiX, die den manuellen Aufwand in Chip-Test und Produktion reduzieren – von der Testprogramm-Generierung über Datenanalyse bis zur outgoing-quality-Modellierung. Ergänzend bietet SilTest Engineering-Dienstleistungen entlang des gesamten Produktflusses: Design for Test (Scan, BIST, Boundary Scan, ATPG), Hardware-Design für Load Boards und Probe Cards, Test Engineering von der NPI bis zur Serienproduktion, Packaging and Qualification sowie Yield Management mit Failure Analysis. Die Ingenieure arbeiten plattformübergreifend auf gängigen ATE-Testern von Advantest, Teradyne, NI und Chroma bei Wafer-, Final- und System-Level-Test. Anwendungen finden sich in Automotive (ADAS, Power), Data Center, KI-Beschleunigern, Photonik sowie Defense und Aerospace. Das Unternehmen wurde am Qatar Science and Technology Park inkubiert und betreibt drei Engineering-Hubs in Kleve, Doha und Bangalore.
- Standort
- Kleve
- Verfahren
- Design for Test (Scan, BIST, Boundary Scan, ATPG), ATE Test Program Development / Test Engineering (wafer, final, system-level test), Hardware Design (Load Boards, Probe Cards, HTOL/Burn-in Boards), Packaging and Qualification (Qualifizierung, Charakterisierung, Reliability Testing), Yield Management (Failure Analysis, Drift Analysis, Gage R&R, ATE-to-Bench Correlation), AI-Testdatenanalyse (VISTAR, YieldOptiX, DefectOptiX, STDF Quick Viewer, CertOptiX), Hardware Design (Load Boards, Probe Cards, Substrate-Design, SI/PI), Test Engineering (NPI, Debug, Charakterisierung, ATE-Programmentwicklung)
- Werkstoffe
- Design for Test (Scan, BIST, Boundary Scan, ATPG), ATE-Testprogramm-Entwicklung (Wafer, Final, System-Level), Hardware Design (Load Boards, Probe Cards, Substrate-Design), Packaging and Qualification, Yield Management
- Branchen
- Halbleiter, Automotive (ADAS, Power), Data Center und Networking, KI/Beschleuniger, Photonik, Defense und Aerospace
- 01
Design for Test
- 02
Hardware Design (Load Boards, Probe Cards)
- 03
Test Engineering (NPI, Debug, ATE-Programmierung)
- 04
Packaging and Qualification
- 05
Yield Management und Sustaining
Leistungen und Plattformen
Design for Test (Scan, BIST, Boundary Scan, ATPG)
Teststruktur-Einbringung vom RTL bis zum Tapeout für hohe Fault Coverage bei weniger Pattern.
ATE-Testprogramm-Entwicklung (Wafer, Final, System-Level)
NPI, Debug und Charakterisierung auf Advantest-, Teradyne-, NI- und Chroma-Testern.
Hardware Design (Load Boards, Probe Cards, Substrate-Design)
Boards für Wafer- und Finaltest sowie HTOL/Burn-in, inklusive SI/PI-Simulation bis 56 GBps SerDes.
Packaging and Qualification
MPW/SPW-Assembly, Reliability-Testing, Charakterisierung und Release zur Produktion inkl. PPAP-Pfad.
Yield Management
Failure Analysis, Drift Analysis, Gage R&R und ATE-to-Bench-Korrelation mit KI-gestützter Datenanalyse.
Standorte
Kleve
DEZentrale (Headquarters), Engineering, SilTest Academy
- Advantest V93000
- Advantest T2000
- Teradyne UltraFLEXplus
- Teradyne J750
- Teradyne ETS-800
- Teradyne ETS-88
- LTX Chroma
- NI ATE
Doha
QAEngineering und regionale Arbeit, Qatar Science and Technology Park
Bangalore
INEngineering
Leistungsprofile
Einblicke in die Fertigung
Branchen
Verfahren & technische Grenzen
| Verfahren | Toleranz | Max. Bauteil | Gewicht | Losgröße | Werkstoffe |
|---|---|---|---|---|---|
| Design for Test (Scan, BIST, Boundary Scan, ATPG)Prüfung | – | – | – | – | – |
| ATE Test Program Development / Test Engineering (wafer, final, system-level test)Prüfung | – | – | – | – | – |
| Hardware Design (Load Boards, Probe Cards, HTOL/Burn-in Boards)Engineering | – | – | – | – | – |
| Packaging and Qualification (Qualifizierung, Charakterisierung, Reliability Testing)Prüfung | – | – | – | – | – |
| Yield Management (Failure Analysis, Drift Analysis, Gage R&R, ATE-to-Bench Correlation)Prüfung | – | – | – | – | – |
| AI-Testdatenanalyse (VISTAR, YieldOptiX, DefectOptiX, STDF Quick Viewer, CertOptiX)Prüfung | – | – | – | – | – |
9 Anlagen & Maschinen
| Maschine | Hersteller / Modell | Anzahl | Arbeitsraum | Baujahr | Standort |
|---|---|---|---|---|---|
| ATE Tester | Advantest V93000 (V93K) | – | – | – | – |
| ATE Tester | Advantest T2000 | – | – | – | – |
| ATE Tester | Teradyne UltraFLEXplus | – | – | – | – |
| ATE Tester | Teradyne J750 | – | – | – | – |
| ATE Tester | Teradyne ETS-800 | – | – | – | – |
| ATE Tester | Teradyne ETS-88 | – | – | – | – |
| ATE Tester | LTX Chroma | – | – | – | – |
| ATE Tester | NI | – | – | – | – |
| ATE Tester | Chroma | – | – | – | – |
Zusatzleistungen
Referenzkunden
Historie
Inkubiert am Qatar Science and Technology Park (QSTP), High-Tech Accelerator Alumni
Über 30 unterstützte Product Ramps